公开(公告)号：CN1487784A

公开(公告)日：2004-04-07

申请号：CN03148982.6

申请日：2003-07-03

Applicant: 株式会社电装

Inventor： 横地智宏 ,  矢崎芳太郎 ,  长坂宽

IPC: H05K3/46 ,  G01N21/84

CPC classification number: H05K3/4069 ,  H05K1/0269 ,  H05K3/0035 ,  H05K3/0055 ,  H05K3/4614 ,  H05K3/4617 ,  H05K2201/0394 ,  H05K2203/0191 ,  H05K2203/0264 ,  H05K2203/108 ,  H05K2203/161

Abstract: 本发明提供一种多层基板形成用素板的检查装置，在粘附有保护膜(81)的多层基板形成用素板(21)上照射光，使用摄像机(2)对保护膜(81)的粘附面的图像进行摄像，基于孔(24)的部分与保护膜(81)的光的反射率的不同，检查过孔(24)的好坏。实施上色以便使保护膜(81)的光反射率降低，使过孔(24)的反射率与保护膜(81)的反射率产生明确的差。因此，根据由摄像机(2)拍摄的图像，可以高精度地检查过孔的大小或是否附着着尘埃等，可以高精度地检查过孔(24)的好坏。

公开(公告)号：CN1251563C

公开(公告)日：2006-04-12

申请号：CN03148982.6

申请日：2003-07-03

Applicant: 株式会社电装

Inventor： 横地智宏 ,  矢崎芳太郎 ,  长坂宽

IPC: H05K3/46 ,  G01N21/84

CPC classification number: H05K3/4069 ,  H05K1/0269 ,  H05K3/0035 ,  H05K3/0055 ,  H05K3/4614 ,  H05K3/4617 ,  H05K2201/0394 ,  H05K2203/0191 ,  H05K2203/0264 ,  H05K2203/108 ,  H05K2203/161

Abstract: 本发明提供一种多层基板形成用素板的检查装置，在粘附有保护膜(81)的多层基板形成用素板(21)上照射光，使用摄像机(2)对保护膜(81)的粘附面的图像进行摄像，基于孔(24)的部分与保护膜(81)的光的反射率的不同，检查过孔(24)的好坏。实施上色以便使保护膜(81)的光反射率降低，使过孔(24)的反射率与保护膜(81)的反射率产生明确的差。因此，根据由摄像机(2)拍摄的图像，可以高精度地检查过孔的大小或是否附着尘埃等，可以高精度地检查过孔(24)的好坏。