射频装置检验夹具和配置在夹具里的接触探针

    公开(公告)号:CN100401072C

    公开(公告)日:2008-07-09

    申请号:CN200310117910.X

    申请日:2003-11-19

    CPC classification number: G01R1/07371

    Abstract: 在检验设置了至少一个介电环形构件与一个接地端子的装置的夹具中,金属块形成一个沿第一方向延伸的通孔。接触探针插入该通孔,该接触探针配备一根沿第一方向延伸的金属管。撞针从金属管一个纵向端可伸缩地伸出而与射频信号端子接触。至少两个介电环形构件设置在金属管外围并与通孔配合,同时在金属管外围与通孔内壁之间形成空隙以便形成同轴通路,其中接触探针用作芯导体,金属块用作外导体。选定通孔直径与介电环形构件直径,使同轴通路相对射频信号端子有一预定的阻抗。

    射频装置检验夹具和配置在夹具里的接触探针

    公开(公告)号:CN1502995A

    公开(公告)日:2004-06-09

    申请号:CN200310117910.X

    申请日:2003-11-19

    CPC classification number: G01R1/07371

    Abstract: 在检验设置了至少一个介电环形构件与一个接地端子的装置的夹具中,金属块形成一个沿第一方向延伸的通孔。接触探针插入该通孔,该接触探针配备一根沿第一方向延伸的金属管。撞针从金属管一个纵向端可伸缩地伸出而与射频信号端子接触。至少两个介电环形构件设置在金属管外围并与通孔配合,同时在金属管外围与通孔内壁之间形成空隙以便形成同轴通路,其中接触探针用作芯导体,金属块用作外导体。选定通孔直径与介电环形构件直径,使同轴通路相对射频信号端子有一预定的阻抗。

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