公开(公告)号：CN100435218C

公开(公告)日：2008-11-19

申请号：CN200510121745.4

申请日：2005-09-29

Applicant: 株式会社东芝

Inventor： 黒田和人 ,  东山泰司 ,  佐藤裕治

IPC: G11B7/00 ,  G11B7/09

CPC classification number: G11B7/005 ,  G11B7/0906 ,  G11B7/0941 ,  G11B20/22

Abstract: 本发明的光盘设备包括：光拾取器(110)，其用激光束照射光盘；光接收单元，包括第一光接收元件和第二光接收元件，所述光接收单元接收从光盘反射的激光束，以便提供对应于被反射的激光束的第一光电检测信号和第二光电检测信号；测量单元(400，500)，其从所述光拾取器接收所述第一和第二光电检测信号，以便测量所述第一和第二光电检测信号之间的传播延迟时间差；延迟单元(600)，其根据所述信号传播延迟时间差延迟所述第一和第二光电检测信号，使得所述第一和第二光电检测信号的延迟时间彼此相等；以及信号处理电路(114)，其处理由所述延迟单元延迟的所述第一和第二光电检测信号，并且提供处理过的信号。

公开(公告)号：CN1822118A

公开(公告)日：2006-08-23

申请号：CN200510121745.4

申请日：2005-09-29

Applicant: 株式会社东芝

Inventor： 黒田和人 ,  东山泰司 ,  佐藤裕治

IPC: G11B7/00 ,  G11B7/09

CPC classification number: G11B7/005 ,  G11B7/0906 ,  G11B7/0941 ,  G11B20/22

Abstract: 本发明的光盘设备包括：光拾取器(110)，其用激光束照射光盘；光接收单元，包括第一光接收元件和第二光接收元件，所述光接收单元接收从光盘反射的激光束，以便提供对应于被反射的激光束的第一光电检测信号和第二光电检测信号；测量单元(400，500)，其从所述光拾取器接收所述第一和第二光电检测信号，以便测量所述第一和第二光电检测信号之间的传播延迟时间差；延迟单元(600)，其根据所述信号传播延迟时间差延迟所述第一和第二光电检测信号，使得所述第一和第二光电检测信号的延迟时间彼此相等；以及信号处理电路(114)，其处理由所述延迟单元延迟的所述第一和第二光电检测信号，并且提供处理过的信号。