公开(公告)号：CN1401078A

公开(公告)日：2003-03-05

申请号：CN01802892.6

申请日：2001-12-25

Applicant: 松下电器产业株式会社

Inventor： 権丈纪子 ,  龟井明仁 ,  河村达朗 ,  濑冈正刚 ,  高桥三枝 ,  田中宏桥

IPC: G01N33/543

CPC classification number: G01N33/558 ,  G01N33/543 ,  G06F19/28

Abstract: 为提供减少前界现象、本底及杂质的影响，能对试料中的分析对象物简便、迅速且正确地定量或定性的特异结合分析方法及用于其的特异结合分析装置，预先按包含设想的分析对象物的各试料，生成与来自特异结合反应的信号强度有关的数据库，基于上述数据库决定试料的信号强度的测定模式，从而决定上述试料中的分析对象物的浓度。

公开(公告)号：CN1182394C

公开(公告)日：2004-12-29

申请号：CN01802892.6

申请日：2001-12-25

Applicant: 松下电器产业株式会社

Inventor： 権丈纪子 ,  龟井明仁 ,  河村达朗 ,  濑冈正刚 ,  高桥三枝 ,  田中宏桥

IPC: G01N33/50 ,  G01N21/75

CPC classification number: G01N33/558 ,  G01N33/543 ,  G06F19/28

Abstract: 为提供减少前界现象、本底及杂质的影响，能对试料中的分析对象物简便、迅速且正确地定量或定性的特异结合分析方法及用于其的特异结合分析装置，预先按包含设想的分析对象物的各试料，生成与来自特异结合反应的信号强度有关的数据库，基于上述数据库决定试料的信号强度的测定模式，从而决定上述试料中的分析对象物的浓度。