公开(公告)号：CN1622097A

公开(公告)日：2005-06-01

申请号：CN200410095888.8

申请日：2004-11-26

Applicant: 松下电器产业株式会社

Inventor： 岛崎健二 ,  佐藤和弘 ,  一宫敬弘 ,  平野将三 ,  高桥正郎 ,  辻川洋行 ,  小岛清次郎

IPC: G06F17/50

CPC classification number: G01R29/26

Abstract: 根据半导体集成电路的设计数据，计算与电源布线相关的一个阻抗，并根据所计算出的阻抗，分析电源噪声的频率特性。在阻抗计算中，可以计算不同电位的电源，例如，主电源和地之间的阻抗。或者，可以计算在电位基本相同的电源，例如，主电源和N阱电源之间的阻抗。所计算出的阻抗包括电源布线之间的布线电容、衬底电阻、连接到所述电源布线的封装阻抗等。因此，能够提供在设计过程的较早阶段用较小的计算量进行地分析半导体集成电路的电源噪声的方法。

公开(公告)号：CN100367286C

公开(公告)日：2008-02-06

申请号：CN200410095888.8

申请日：2004-11-26

Applicant: 松下电器产业株式会社

Inventor： 岛崎健二 ,  佐藤和弘 ,  一宫敬弘 ,  平野将三 ,  高桥正郎 ,  辻川洋行 ,  小岛清次郎

IPC: G06F17/50

CPC classification number: G01R29/26

Abstract: 根据半导体集成电路的设计数据，计算与电源布线相关的一个阻抗，并根据所计算出的阻抗，分析电源噪声的频率特性。在阻抗计算中，可以计算不同电位的电源，例如，主电源和地之间的阻抗。或者，可以计算在电位基本相同的电源，例如，主电源和N阱电源之间的阻抗。所计算出的阻抗包括电源布线之间的布线电容、衬底电阻、连接到所述电源布线的封装阻抗等。因此，能够提供在设计过程的较早阶段用较小的计算量进行地分析半导体集成电路的电源噪声的方法。

公开(公告)号：CN1637745A

公开(公告)日：2005-07-13

申请号：CN200410082184.7

申请日：2004-12-31

Applicant: 松下电器产业株式会社

Inventor： 岛崎健二 ,  佐藤和弘 ,  一宫敬弘 ,  平野将三 ,  高桥正郎 ,  辻川洋行 ,  小岛清次郎

IPC: G06F17/50

CPC classification number: G06F17/5036 ,  G06F17/5063

Abstract: 根据一个半导体集成电路的设计数据来计算电源线的阻抗，获得所计算出的阻抗的频率特性，并根据所获得的频率特性来更改所述半导体集成电路的设计。作为上述阻抗，可以计算电势不同的电源例如电源和地之间的阻抗，或者可以计算电势基本相同的电源例如电源和N－阱电源之间的阻抗。通过设计修改，改变了例如布线方法、焊盘数量、电源的隔离、封装类型、电感元件的特性、衬底结构、布线之间的距离、去耦电容、布线的长度和电阻元件的特性。