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公开(公告)号：CN104034744A
公开(公告)日：2014-09-10
申请号：CN201410243593.4
申请日：2014-06-03
Applicant: 杭州电子科技大学
IPC: G01N23/20
Abstract: 本发明公开了一种X射线衍射测量热解炭涂层残余应力的方法。目前还没有利用X射线衍射法测量热解炭残余应力的完整技术。本发明的具体步骤：对实验样品进行常规X射线检测，得到衍射全谱，确定衍射峰的最大衍射角度2；采用X射线衍射仪，设定扫描起始角、扫描终止角、扫描步距、扫描速度和计数时间，选取六个方位角，测量出实验样品对应每个方位角的晶面衍射角2，计算每个方位角对应的，绘制—离散图，并根据各离散点拟合得到直线斜率；计算残余应力值，式中：为实验样品的弹性模量，为实验样品的泊松比；为实验样品无应力时的半晶面衍射角。本发明在不破坏涂层的前提下，更简便、准确地得到热解炭涂层的残余应力值。
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