公开(公告)号：CN106052910A

公开(公告)日：2016-10-26

申请号：CN201610248473.2

申请日：2016-04-20

Applicant: 暨南大学

Inventor： 余健辉 ,  陈哲 ,  邱伟洽 ,  黄汉凯 ,  关贺元 ,  卢惠辉

IPC: G01L1/24

CPC classification number: G01L1/242

Abstract: 本发明公开一种基于微纳光纤与衬底之间光干涉的弱力测量系统，包括相机、显微镜、激光器、衬底、压电陶瓷、光源、U形架、微纳光纤、光电探测器和控制系统，所述压电陶瓷与控制系统连接；所述U形架用于封装微纳光纤；所述微纳光纤放置于光源的下方，一端与激光器连接，另一端与光电探测器连接，在激光器的作用下，微纳光纤上出现微弱光力，微弱光力会导致微纳光纤产生变形，进而产生横向位移，从而导致微纳光纤表面的彩色干涉条纹产生移动，通过相机以及显微镜可以观察到微纳光纤表面的彩色干涉条纹；所述光电探测器用于检测激光器发出的光功率；所述衬底放置于微纳光纤下方压电陶瓷上方，所述光源从上方垂直照射微纳光纤和衬底。