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公开(公告)号：CN117168616A
公开(公告)日：2023-12-05
申请号：CN202210602980.7
申请日：2022-05-27
Applicant: 暨南大学
Abstract: 本发明公开了一种芯片光谱仪及光探测方法。所述芯片光谱仪包括：探测器以及不透光层，具有色散结构以及透光结构或输出耦合结构；其中，被测光入射所述不透光层后，形成于所述色散结构所在平面上传输的光，并与所述色散结构耦合实现色散，之后经所述透光结构或输出耦合结构输出至所述探测器的受光面。本发明实施例提供的一种芯片光谱仪，色散结构的覆盖面积小，可以完全在芯片上集成，而无需全反射棱镜等倏逝波耦合元件。
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公开(公告)号：CN116990258A
公开(公告)日：2023-11-03
申请号：CN202210454818.5
申请日：2022-04-26
Applicant: 暨南大学
Abstract: 本发明公开了一种调谐型光谱检测系统及光谱检测方法。所述调谐型光谱检测系统包括全反射光耦合元件、光调谐单元和光检测单元；所述全反射光耦合元件能够对入射光进行全反射并产生倏逝波，所述入射光包括选定波长的光；所述光调谐单元包括：金属层，其能够被由所述选定波长的光产生的倏逝波激发而产生表面等离子体波，并能够吸收所述表面等离子体波，折射率可调模块，其用于调控所述金属层表面所处环境的折射率，以至少改变所述表面等离子体波的耦合条件；所述光检测单元至少用于对由所述光调谐单元输出的反射光的光强进行检测并转换为电信号输出。本发明提供的调谐型光谱检测系统可实现大范围波长检测，且具有检测精度和集成度高的优点。
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公开(公告)号：CN116990257A
公开(公告)日：2023-11-03
申请号：CN202210454462.5
申请日：2022-04-26
Applicant: 暨南大学
Abstract: 本发明公开了一种可重构光探测机构及光谱测试方法。所述可重构光探测机构包括全反射光耦合单元，其能够对入射光进行全反射并产生倏逝波，所述入射光包括具有目标波长的光；探测单元，其包括金属层和有源层，所述金属层能够被由所述具有目标波长的光产生的倏逝波激发而产生表面等离子体波，并能够吸收所述表面等离子体波，所述有源层与金属层形成异质结并能够将所述金属层吸收的表面等离子体波转换为电信号；光调谐单元，其用于调控所述金属层表面所处环境的折射率。本发明提供的可重构光探测机构可实现大范围波长的检测，且具有检测精度高和集成度高的优点。
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