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发明公开
分光光度计、分光测定方法以及程序审中-实审

公开(公告)号：CN115524298A

公开(公告)日：2022-12-27

申请号：CN202210212093.9

申请日：2022-03-04

Applicant: 日本株式会社日立高新技术科学

Inventor： 丸山魁 , 和久井隆行

IPC: G01N21/31 , G01N21/01

Abstract: 本发明提供分光光度计、分光测定方法以及程序。在对吸光度因波长区域而大幅变化的测定试样进行测定的情况下，能够高效地短时间实施S/N比和精度较高的测定。分光光度计(100)针对测定试样的波长扫描测定中的多个波长区域，根据包含在各波长区域中应配置的多个减光板(16a～16e)中的1个和在各波长区域中应设定的波长的扫描速度在内的测定条件，在执行一次扫描包含多个波长区域的全部的全部测定波长区域的波长扫描测定时，针对每个波长区域，按照测定条件变更多个减光板(16a～16e)中的1个和扫描速度。

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