表面保护膜及带表面保护膜的光学构件

    公开(公告)号:CN118695946A

    公开(公告)日:2024-09-24

    申请号:CN202280089588.5

    申请日:2022-12-27

    Abstract: 本发明提供即使在贴合于保护对象的状态下供于气泡检查也能够实现对保护对象的准确检查的表面保护膜。本发明的实施方式的表面保护膜具备基材、和层叠于基材的粘接层。粘接层的与基材相反侧的表面满足下述式(1)。(式(1)中,S表示在表面形状评价试验中的白光干涉仪的测定视野面积;B‑BA表示在表面形状评价试验中得到的二值化前的二维图像中的黑色区域的面积;A‑WA表示在表面形状评价试验中得到的二值化后的二维图像中的白色区域的面积。)#imgabs0#

    光学层叠体
    2.
    发明公开
    光学层叠体 审中-公开

    公开(公告)号:CN117891018A

    公开(公告)日:2024-04-16

    申请号:CN202311321564.0

    申请日:2023-10-12

    Abstract: 本发明提供在层叠方向及斜向上具有优异的光学补偿性能的光学层叠体。本发明的实施方式的光学层叠体具备偏振构件、和配置于偏振构件的可视侧的多个相位差构件,上述在光学层叠体在方位角0°下以仰角90°及仰角30°测定的椭圆率分别为0.8以上。

    表面保护膜及带表面保护膜的光学构件

    公开(公告)号:CN118574725A

    公开(公告)日:2024-08-30

    申请号:CN202280089587.0

    申请日:2022-12-27

    Abstract: 本发明提供即使在贴合于保护对象的状态下供于异物检查及气泡检查也能够实现对保护对象的准确检查的表面保护膜。本发明的实施方式的表面保护膜具备基材、和层叠于基材的粘接层。粘接层的与基材相反侧的表面的最大谷深(Sv)的绝对值为500nm以下,对基材进行显微镜观察时,在100μm×100μm的观察区域中,最大费雷特直径为10μm以上的缺陷数少于3个。

    偏光膜卷的制造方法
    4.
    发明授权

    公开(公告)号:CN110562779B

    公开(公告)日:2021-12-17

    申请号:CN201910480157.1

    申请日:2019-06-04

    Abstract: 本发明的目的在于提供一种能够抑制偏光膜端部发生卷绕凹陷的偏光膜卷的制造方法。本发明的偏光膜卷制造方法的特征在于,包含将偏光膜卷绕于卷芯的工序,所述偏光膜的厚度为100μm以下,且长度为500m以上4000m以下,在所述工序中,以从卷绕量达到500m以上时开始至卷绕结束为止通过下式(1)算出的张力成为30N以上150N以下的方式,一边施加张力y,一边将偏光膜卷绕于卷芯。张力y=a{1-(bx/400000)} (1)a:卷绕开始时的张力(a>30N)b:锥度比(%)={(卷绕开始时的张力-假定卷绕4000m时的张力)/卷绕开始时的张力}×100x:卷绕量(500m≤x≤4000m)。

    相位差层中间体的制造方法以及带相位差层的偏振片的制造方法

    公开(公告)号:CN119256251A

    公开(公告)日:2025-01-03

    申请号:CN202380041883.8

    申请日:2023-04-14

    Abstract: 本发明提供能够有效地制造慢轴方向得到了极为精密的控制的相位差层中间体以及带相位差层的偏振片的方法。本发明的实施方式的相位差层的制造方法包括:对于具有慢轴的相位差膜的原膜卷,一边对在该原膜卷的宽度方向上该慢轴相对于长度方向的偏移进行修正一边将其冲裁成给定尺寸,得到在长边方向上具有慢轴的单片的相位差层中间体。

    光透射性积层体的检查方法
    6.
    发明公开

    公开(公告)号:CN115135996A

    公开(公告)日:2022-09-30

    申请号:CN202180016062.X

    申请日:2021-02-16

    Abstract: 本发明提供一种可检测出与以往相比格外微小的异物的光透射性积层体的检查方法。本发明光透射性积层体的检查方法是在将光透射性积层体逐片固定在半空中的状态下进行透射检查,检测光透射性积层体中的8μm~50μm尺寸的缺陷。例如,缺陷的检测包含以下步骤:将规定倍率的光学系统的焦点对准光透射性积层体的第一主面的表面,并以光学系统扫描光透射性积层体,而制作出缺陷的XY坐标图;使光学系统的焦点从光透射性积层体的第一主面的表面向厚度方向内侧偏移规定距离,并以光学系统扫描光透射性积层体,而制作出另一缺陷的XY坐标图;及,整合制作出的缺陷的XY坐标图。

    带相位差层的偏振片的制造方法
    9.
    发明公开

    公开(公告)号:CN119234166A

    公开(公告)日:2024-12-31

    申请号:CN202380041880.4

    申请日:2023-04-06

    Abstract: 本发明提供能够有效地制造起偏镜的吸收轴方向及相位差层的慢轴方向得到了极为精密的控制的带相位差层的偏振片的方法。本发明的实施方式的带相位差层的偏振片的制造方法包括:对于在长度方向上具有慢轴的相位差膜的原膜卷,一边对在该原膜卷的宽度方向上慢轴相对于长度方向的偏移进行修正一边将其冲裁成给定尺寸,得到在长边方向上具有慢轴的单片的相位差层中间体;将在长度方向上具有吸收轴的偏振片的原膜卷冲裁成与相位差层中间体相同的尺寸,得到在相对于长边方向45°方向上具有吸收轴的单片的偏振片中间体;将相位差层中间体与偏振片中间体以使外缘一致的方式贴合,得到偏振片的吸收轴与相位差层的慢轴所成的角度为45°的带相位差层的偏振片中间体;以及对带相位差层的偏振片中间体进行冲裁,得到在长边方向上具有吸收轴的给定尺寸的带相位差层的偏振片片材。

    光学层叠体的制造方法
    10.
    发明公开

    公开(公告)号:CN117885359A

    公开(公告)日:2024-04-16

    申请号:CN202311324125.5

    申请日:2023-10-12

    Abstract: 本发明提供能够有效地制造精密地控制了起偏镜的吸收轴与相位差层的慢轴所成的角度的光学层叠体的方法。本发明的实施方式的光学层叠体的制造方法包括:准备包含偏振片的第1层叠膜、和包含第1相位差层的第2层叠膜的工序;在该第2层叠膜的多个部位检查第1相位差层的理想状态的慢轴与实际的慢轴所成的轴交叉角度,判定第2层叠膜为合格品或不合格品的工序;将被判定为合格品的第2层叠膜与第1层叠膜贴合,得到层叠膜中间体的工序;检查层叠膜中间体中有无异物,判定层叠膜中间体为合格品或不合格品的工序;以及将被判定为合格品的层叠膜中间体冲裁成给定尺寸,得到多个光学层叠体片的工序。

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