公开(公告)号：CN102455971B

公开(公告)日：2014-09-03

申请号：CN201010527357.7

申请日：2010-10-28

Applicant: 无锡江南计算技术研究所

Inventor： 王俊 ,  唐大国 ,  李岱锋 ,  王丽一

IPC: G06F11/36

Abstract: 本发明实施例公开了不易存在测试盲区或薄弱环节的应用级随机指令测试方法、系统及装置。上述方法包括：从指定的指令集中随机选择多条指令模板；利用多条指令模板进行预定次数的测试，并得到测试结果；其中，每一次测试包括：使用指定内存空间及寄存器已被初始化的硬件平台和模拟平台分别执行根据多条指令模板而随机生成的指令组合，并得到各自的执行结果；测试结果包括比较结果，比较结果由比较硬件平台的执行结果与模拟平台的执行结果是否相同而得出。可以看出，指令模板的选取以及指令组合的生成都是随机的，尤在预设次数足够大时，更容易测到常规程序/测试用例难以测到的盲区或薄弱环节，不易存在测试盲区或薄弱环节。

公开(公告)号：CN102455971A

公开(公告)日：2012-05-16

申请号：CN201010527357.7

申请日：2010-10-28

Applicant: 无锡江南计算技术研究所

Inventor： 王俊 ,  唐大国 ,  李岱锋 ,  王丽一

IPC: G06F11/36

Abstract: 本发明实施例公开了不易存在测试盲区或薄弱环节的应用级随机指令测试方法、系统及装置。上述方法包括：从指定的指令集中随机选择多条指令模板；利用多条指令模板进行预定次数的测试，并得到测试结果；其中，每一次测试包括：使用指定内存空间及寄存器已被初始化的硬件平台和模拟平台分别执行根据多条指令模板而随机生成的指令组合，并得到各自的执行结果；测试结果包括比较结果，比较结果由比较硬件平台的执行结果与模拟平台的执行结果是否相同而得出。可以看出，指令模板的选取以及指令组合的生成都是随机的，尤在预设次数足够大时，更容易测到常规程序/测试用例难以测到的盲区或薄弱环节，不易存在测试盲区或薄弱环节。