基于混合激活函数网络的晶圆缺陷检测IGP处理单元

    公开(公告)号:CN119205796B

    公开(公告)日:2025-03-14

    申请号:CN202411737691.3

    申请日:2024-11-29

    Abstract: 本发明公开了一种基于混合激活函数网络的晶圆缺陷检测IGP处理单元,包括:CPU,用于任务的调度、计算资源的管理、控制逻辑的实现;NPU,用于运行晶圆缺陷检测神经网络算法,完成晶圆缺陷检测;所述晶圆缺陷检测神经网络算法包括激活函数,优化激活函数运算,使用帕德逼近算法拟合#imgabs0#,进一步拟合激活函数;存储阵列,用于完成晶圆图像数据的存储和训练数据的存储;图像采集卡,用于高速接收成像设备对晶圆表面成像的数据,并将图像数据通过数据总线向中央处理器和神经网络处理单元进行传递。以ARM CPU和NPU的混合硬件结构为基础,通过引入帕德逼近算法改进网络的精度和计算效率,有效提高晶圆缺陷检测的精度和速度。

    曳引轮铁型覆砂铸造工艺优化方法及系统

    公开(公告)号:CN118965820B

    公开(公告)日:2024-12-31

    申请号:CN202411428429.0

    申请日:2024-10-14

    Abstract: 本发明公开了一种曳引轮铁型覆砂铸造工艺优化方法及系统,包括:根据曳引轮轮槽硬度差构建目标优化函数;获取铸件的厚度和材料,使用改进烟花算法迭代求解曳引轮铁型覆砂铸造工艺的优化参数,得到目标数据;所述改进烟花算法在烟花算法的基础上,使用深度学习中的Dropout算法对烟花的爆炸半径进行筛选;根据得到的目标数据进行曳引轮铁型覆砂铸造。提出了铁型覆砂铸造工艺的优化目标函数,然后根据铁型覆砂铸造工艺的特点,针对性地对烟花优化算法进行了改进,得到了智能化的铁型覆砂铸造工艺优化方法,能够提高电梯曳引轮的铸造质量。

    面向封装芯片批量检测的视觉稳定扫描成像装置

    公开(公告)号:CN117110318B

    公开(公告)日:2024-01-02

    申请号:CN202311354876.1

    申请日:2023-10-19

    Abstract: 本发明公开了一种面向封装芯片批量检测的视觉稳定扫描成像装置,包括底座和设置于所述底座的移动支架机构,所述移动支架机构上设置有工业相机,所述底座上还设置有芯片检测移动支架,所述芯片检测移动支架设置有芯片吸取机构,所述芯片吸取机构包括柱体框架,所述柱体框架旋转连接于所述芯片检测移动支架,所述柱体框架上设置有至少一组吸盘架,所述吸盘架内部为中空结构,所述吸盘架上设置有多个气嘴,所述气嘴上设置有吸盘,所述吸盘架还设置有气泵接口,所述气泵接口连接气源。芯片吸取机构可以旋转,配合工业相机多自由度移动支架装置,使得线阵扫描相机与被检测的芯片能够形成符合成像的需求视角,保证成像的准确性,提高了检测的效率。

    曳引轮铁型覆砂铸造工艺优化方法及系统

    公开(公告)号:CN118965820A

    公开(公告)日:2024-11-15

    申请号:CN202411428429.0

    申请日:2024-10-14

    Abstract: 本发明公开了一种曳引轮铁型覆砂铸造工艺优化方法及系统,包括:根据曳引轮轮槽硬度差构建目标优化函数;获取铸件的厚度和材料,使用改进烟花算法迭代求解曳引轮铁型覆砂铸造工艺的优化参数,得到目标数据;所述改进烟花算法在烟花算法的基础上,使用深度学习中的Dropout算法对烟花的爆炸半径进行筛选;根据得到的目标数据进行曳引轮铁型覆砂铸造。提出了铁型覆砂铸造工艺的优化目标函数,然后根据铁型覆砂铸造工艺的特点,针对性地对烟花优化算法进行了改进,得到了智能化的铁型覆砂铸造工艺优化方法,能够提高电梯曳引轮的铸造质量。

    基于混合激活函数网络的晶圆缺陷检测IGP处理单元

    公开(公告)号:CN119205796A

    公开(公告)日:2024-12-27

    申请号:CN202411737691.3

    申请日:2024-11-29

    Abstract: 本发明公开了一种基于混合激活函数网络的晶圆缺陷检测IGP处理单元,包括:CPU,用于任务的调度、计算资源的管理、控制逻辑的实现;NPU,用于运行晶圆缺陷检测神经网络算法,完成晶圆缺陷检测;所述晶圆缺陷检测神经网络算法包括激活函数,优化激活函数运算,使用帕德逼近算法拟合#imgabs0#,进一步拟合激活函数;存储阵列,用于完成晶圆图像数据的存储和训练数据的存储;图像采集卡,用于高速接收成像设备对晶圆表面成像的数据,并将图像数据通过数据总线向中央处理器和神经网络处理单元进行传递。以ARM CPU和NPU的混合硬件结构为基础,通过引入帕德逼近算法改进网络的精度和计算效率,有效提高晶圆缺陷检测的精度和速度。

    面向封装芯片批量检测的视觉稳定扫描成像装置

    公开(公告)号:CN117110318A

    公开(公告)日:2023-11-24

    申请号:CN202311354876.1

    申请日:2023-10-19

    Abstract: 本发明公开了一种面向封装芯片批量检测的视觉稳定扫描成像装置,包括底座和设置于所述底座的移动支架机构,所述移动支架机构上设置有工业相机,所述底座上还设置有芯片检测移动支架,所述芯片检测移动支架设置有芯片吸取机构,所述芯片吸取机构包括柱体框架,所述柱体框架旋转连接于所述芯片检测移动支架,所述柱体框架上设置有至少一组吸盘架,所述吸盘架内部为中空结构,所述吸盘架上设置有多个气嘴,所述气嘴上设置有吸盘,所述吸盘架还设置有气泵接口,所述气泵接口连接气源。芯片吸取机构可以旋转,配合工业相机多自由度移动支架装置,使得线阵扫描相机与被检测的芯片能够形成符合成像的需求视角,保证成像的准确性,提高了检测的效率。

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