标本分析仪
    3.
    发明授权

    公开(公告)号:CN101726610B

    公开(公告)日:2014-07-09

    申请号:CN200910180078.5

    申请日:2009-10-26

    Inventor: 近藤启太郎

    Abstract: 本发明提供一种标本分析仪,包括:试剂配置部件,用于配置盛放试剂的试剂容器;测量器件,用于测算反映配置在上述试剂配置部件的试剂容器内的试剂量的值;接受单元,接受获取上述试剂配置部件上的试剂容器内的试剂余量的指示;测算控制单元,控制上述测量器件在上述接受单元受理上述指示时测算反映上述试剂配置部件上的试剂容器内的试剂量的值;试剂余量获取单元,根据上述测量器件的测算结果,获取表示上述测量器件测算的上述试剂容器内的试剂余量的试剂余量信息;及检测器,检测出由标本和配置于上述试剂配置部件的试剂容器内的试剂所制备的测定试样中所含的一定成份的相关信息。

    标本分析仪
    5.
    发明公开

    公开(公告)号:CN101726610A

    公开(公告)日:2010-06-09

    申请号:CN200910180078.5

    申请日:2009-10-26

    Inventor: 近藤启太郎

    Abstract: 本发明提供一种标本分析仪,包括:试剂配置部件,用于配置盛放试剂的试剂容器;测量器件,用于测算反映配置在上述试剂配置部件的试剂容器内的试剂量的值;接受单元,接受获取上述试剂配置部件上的试剂容器内的试剂余量的指示;测算控制单元,控制上述测量器件在上述接受单元受理上述指示时测算反映上述试剂配置部件上的试剂容器内的试剂量的值;试剂余量获取单元,根据上述测量器件的测算结果,获取表示上述测量器件测算的上述试剂容器内的试剂余量的试剂余量信息;及检测器,检测出由标本和配置于上述试剂配置部件的试剂容器内的试剂所制备的测定试样中所含的一定成份的相关信息。

    试样分析仪、分析方法及其控制系统

    公开(公告)号:CN101520462A

    公开(公告)日:2009-09-02

    申请号:CN200910118675.5

    申请日:2009-02-27

    CPC classification number: G01N35/00623 Y10T436/25

    Abstract: 本发明提供一种能对混合标本和试剂制备的测定试样进行分析的试样分析仪、试样分析方法及其控制系统。该分析仪包括:存储若干读取条件相关信息的条件存储器;ID读取设备,从一定位置以一定读取条件读取为识别标本容器、试剂容器及放置有上述标本容器或试剂容器的收纳器而被配给于至少其中之一的识别信息;ID读取检验模块,用于判断上述ID读取设备是否正常读取了上述识别信息;读取条件变更模块,当在上述ID读取检验模块判断未能正常读取时,将上述一定读取条件变更为存在上述条件存储器中、与上述一定读取条件不同的其他读取条件。

    试样分析仪、分析方法及其控制系统

    公开(公告)号:CN101520462B

    公开(公告)日:2012-12-05

    申请号:CN200910118675.5

    申请日:2009-02-27

    CPC classification number: G01N35/00623 Y10T436/25

    Abstract: 本发明提供一种能对混合标本和试剂制备的测定试样进行分析的试样分析仪、试样分析方法及其控制系统。该分析仪包括:存储若干读取条件相关信息的条件存储器;ID读取设备,从一定位置以一定读取条件读取为识别标本容器、试剂容器及放置有上述标本容器或试剂容器的收纳器而被配给于至少其中之一的识别信息;ID读取检验模块,用于判断上述ID读取设备是否正常读取了上述识别信息;读取条件变更模块,当在上述ID读取检验模块判断未能正常读取时,将上述一定读取条件变更为存在上述条件存储器中、与上述一定读取条件不同的其他读取条件。

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