公开(公告)号：CN102156088A

公开(公告)日：2011-08-17

申请号：CN201010565424.4

申请日：2010-11-30

Applicant: 希森美康株式会社

Inventor： 小篠正继 ,  小林宽征

IPC: G01N15/14 ,  G01N15/00 ,  G01N33/487

CPC classification number: G01N15/1475 ,  G01N1/31 ,  G01N15/147 ,  G01N2015/0092 ,  G01N2015/1438

Abstract: 本发明公开一种粒子分析仪，包括：形成含粒子的试样流的流动室；第一光源和第二光源；使得所述第一和第二光源发出的光照射所述试样流的照射光学系统；检测由所述第一光源发出的光照射所述试样流中粒子所产生的前向散射光并输出信号的检测部件；配置在所述流动室和所述检测部件之间的遮光器件；根据所述检测部件输出的信号获取粒子特征参数的控制器；及在所第二光源发出的光的照射下拍摄所述试样流中粒子图像的摄像部件；其中，配置所述遮光器件时使其能够遮挡从所述流动室射出的所述第一光源的直接光，并至少能够遮挡从所述流动室射出的所述第二光源的直接光的一部分。同时，本发明还公开一种粒子拍摄方法。

公开(公告)号：CN102156088B

公开(公告)日：2014-03-12

申请号：CN201010565424.4

申请日：2010-11-30

Applicant: 希森美康株式会社

Inventor： 小篠正继 ,  小林宽征

IPC: G01N15/14 ,  G01N15/00 ,  G01N33/487

CPC classification number: G01N15/1475 ,  G01N1/31 ,  G01N15/147 ,  G01N2015/0092 ,  G01N2015/1438

Abstract: 本发明公开一种粒子分析仪，包括：形成含粒子的试样流的流动室；第一光源和第二光源；使得所述第一和第二光源发出的光照射所述试样流的照射光学系统；检测由所述第一光源发出的光照射所述试样流中粒子所产生的前向散射光并输出信号的检测部件；配置在所述流动室和所述检测部件之间的遮光器件；根据所述检测部件输出的信号获取粒子特征参数的控制器；及在所第二光源发出的光的照射下拍摄所述试样流中粒子图像的摄像部件；其中，配置所述遮光器件时使其能够遮挡从所述流动室射出的所述第一光源的直接光，并至少能够遮挡从所述流动室射出的所述第二光源的直接光的一部分。同时，本发明还公开一种粒子拍摄方法。