粒子分析装置
    2.
    发明授权

    公开(公告)号:CN1044284C

    公开(公告)日:1999-07-21

    申请号:CN94113744.9

    申请日:1994-11-01

    CPC classification number: G01N15/14 G01N15/1012 G01N15/12 G01N2015/1037

    Abstract: 本发明为一种粒子分析装置,设有通过细孔使容纳电解液的第1及第2槽联通,并使被护围液包围的电解液中悬浮的粒子通过细孔的液流槽;在分别设置在第1及第2槽中的电解液中的电极之间施加电压的电压施加装置;检测粒子通过细孔时电极之间的电阻变化的电阻检测装置;将光束照射在护围液中包围的粒子液流上的光源装置;检测被照射的粒子的散射光强度的光检测装置;根据电阻检测装置的输出算出粒子直径的第1粒径运算装置;算出粒子折射率的折射率运算装置;以及算出粒子直径的粒径运算装置。

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