Patent search ap:("富士电机电子技术株式会社") AND inv:"西浦彰" Page 1

1.

外观设计
半导体器件失效转让

公开(公告)号：CN301067258D

公开(公告)日：2009-11-25

申请号：CN200830210376.0

申请日：2008-10-31

Applicant: 富士电机电子技术株式会社

Designer： 征矢野伸 , 西浦彰

2.

外观设计
半导体器件失效转让

公开(公告)号：CN301071807D

公开(公告)日：2009-12-02

申请号：CN200830126139.6

申请日：2008-06-18

Applicant: 富士电机电子技术株式会社

Designer： 征矢野伸 , 西浦彰

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