一种环境试验方案设计方法及装置

    公开(公告)号:CN108871820A

    公开(公告)日:2018-11-23

    申请号:CN201710338204.X

    申请日:2017-05-15

    Abstract: 本发明公开了一种环境试验方案设计方法及装置,可以充分利用历史环境试验数据对即将开展的环境试验调整试验的测试项目,提高环境试验的效率,降低试验成本。所述环境试验方案设计方法,包括:针对每一测试项,根据历史测试数据分别确定该测试项的测试通过率以及故障敏感指数,所述测试通过率用于表征该测试项的激发产品故障的能力,所述故障敏感指数用于表征该测试项发掘产品故障的效率;针对每一测试项,根据所述测试通过率和故障敏感指数确定该测试项的重要度指数;根据各测试项的重要度指数确定待测试产品的环境试验方案。

    一种基站的热设计评估方法和装置

    公开(公告)号:CN108882280B

    公开(公告)日:2020-12-04

    申请号:CN201710339894.0

    申请日:2017-05-15

    Abstract: 本发明实施例提供了一种基站的热设计评估方法和装置,所述基站包括板卡,所述板卡包括分布在不同位置的芯片,所述方法包括:确定基站的热敏感位置;获取所述热敏感位置对应芯片的工作温度;以及,获取所述热敏感位置对应芯片的额定温度;依据所述工作温度及所述额定温度生成特征函数;采用所述特征函数确定基站的热设计是否满足需求。采用所述特征函数确定基站的热设计是否满足需求,有效的利用了试验数据的分散性;易于施行,有效降低设计难度与成本;在一些极端情况下,如果实际的热设计无法满足降额要求,但满足额定要求时,定量给出在这一场景下产品的风险信息,为决策提供更多依据。

    一种环境试验方案设计方法及装置

    公开(公告)号:CN108871820B

    公开(公告)日:2020-04-14

    申请号:CN201710338204.X

    申请日:2017-05-15

    Abstract: 本发明公开了一种环境试验方案设计方法及装置,可以充分利用历史环境试验数据对即将开展的环境试验调整试验的测试项目,提高环境试验的效率,降低试验成本。所述环境试验方案设计方法,包括:针对每一测试项,根据历史测试数据分别确定该测试项的测试通过率以及故障敏感指数,所述测试通过率用于表征该测试项的激发产品故障的能力,所述故障敏感指数用于表征该测试项发掘产品故障的效率;针对每一测试项,根据所述测试通过率和故障敏感指数确定该测试项的重要度指数;根据各测试项的重要度指数确定待测试产品的环境试验方案。

    一种基站的热设计评估方法和装置

    公开(公告)号:CN108882280A

    公开(公告)日:2018-11-23

    申请号:CN201710339894.0

    申请日:2017-05-15

    Abstract: 本发明实施例提供了一种基站的热设计评估方法和装置,所述基站包括板卡,所述板卡包括分布在不同位置的芯片,所述方法包括:确定基站的热敏感位置;获取所述热敏感位置对应芯片的工作温度;以及,获取所述热敏感位置对应芯片的额定温度;依据所述工作温度及所述额定温度生成特征函数;采用所述特征函数确定基站的热设计是否满足需求。采用所述特征函数确定基站的热设计是否满足需求,有效的利用了试验数据的分散性;易于施行,有效降低设计难度与成本;在一些极端情况下,如果实际的热设计无法满足降额要求,但满足额定要求时,定量给出在这一场景下产品的风险信息,为决策提供更多依据。

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