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发明公开
一种内网渗透测试方法、装置、电子设备及存储介质审中-实审

公开(公告)号：CN118646581A

公开(公告)日：2024-09-13

申请号：CN202410851816.9

申请日：2024-06-27

Applicant: 国家工业信息安全发展研究中心

Inventor： 张哲宇 , 卢春景 , 廖剑 , 任晓蕊 , 许一骏 , 邱亚钦 , 吴莉娜 , 朱佳佳 , 贾梦迪 , 张格

IPC: H04L9/40

Abstract: 本申请涉及信息安全领域，提供了一种内网渗透测试方法、装置、电子设备及存储介质，其中，内网渗透测试方法包括：确定场景信息和渗透目标，所述场景信息包括测试方式；对所述渗透目标进行识别，得到所述渗透目标的资产信息；根据所述测试方式对所述资产信息进行渗透测试，得到第一漏洞信息。通过上述方案检测发现漏洞，保护资产。

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