应用于太赫兹激光源的电控可变扩束比装置

    公开(公告)号:CN102508223B

    公开(公告)日:2013-05-01

    申请号:CN201110391475.4

    申请日:2011-11-30

    Abstract: 应用于太赫兹激光源的电控可变扩束比装置,属于太赫兹测量技术领域。它解决了现有太赫兹RCS测量装置在测量尺寸相差较大的不同目标时,由于不能改变照射到测量目标的平行光束尺寸,会产生较大的测量误差的问题。本发明基于共焦离轴抛物面镜组对平行光束的扩束或压缩机理,即通过不同焦距的离轴抛物面镜组,实现对输入平行光束的不同扩束或压缩;同时,为了实现高精度扩束或压缩,即保证本发明装置的扩束比精度,本发明装置采用了高精密的电控平移台、高精密电控升降台和高精密电控旋转台实现全反镜和离轴抛物面镜的平移、升降和旋转。本发明用于雷达散射截面的测量装置中对输入平行光束进行扩束或压缩。

    基于单支连续太赫兹激光源的RCS测量装置

    公开(公告)号:CN102435987A

    公开(公告)日:2012-05-02

    申请号:CN201110390617.5

    申请日:2011-11-30

    Abstract: 基于单支连续太赫兹激光源的RCS测量装置,属于太赫兹雷达散射截面测量技术领域。它解决了2.52THz波段的不同尺寸目标雷达散射截面的测量问题。本发明包括CO2激光泵浦连续太赫兹激光器、斩波器、分光片、电控可变扩束比装置、P3离轴抛物面镜、P2离轴抛物面镜、精密运动平台、M1全反镜、P1离轴抛物面镜、散射信号探测器、第一锁相放大器模块、计算机和斩波器的驱动器。本发明适用于不同尺寸目标雷达散射截面的测量。

    应用于太赫兹激光源的电控可变扩束比装置

    公开(公告)号:CN102508223A

    公开(公告)日:2012-06-20

    申请号:CN201110391475.4

    申请日:2011-11-30

    Abstract: 应用于太赫兹激光源的电控可变扩束比装置,属于太赫兹测量技术领域。它解决了现有太赫兹RCS测量装置在测量尺寸相差较大的不同目标时,由于不能改变照射到测量目标的平行光束尺寸,会产生较大的测量误差的问题。本发明基于共焦离轴抛物面镜组对平行光束的扩束或压缩机理,即通过不同焦距的离轴抛物面镜组,实现对输入平行光束的不同扩束或压缩;同时,为了实现高精度扩束或压缩,即保证本发明装置的扩束比精度,本发明装置采用了高精密的电控平移台、高精密电控升降台和高精密电控旋转台实现全反镜和离轴抛物面镜的平移、升降和旋转。本发明用于雷达散射截面的测量装置中对输入平行光束进行扩束或压缩。

    基于单支连续太赫兹激光源的RCS测量装置

    公开(公告)号:CN102435987B

    公开(公告)日:2013-05-01

    申请号:CN201110390617.5

    申请日:2011-11-30

    Abstract: 基于单支连续太赫兹激光源的RCS测量装置,属于太赫兹雷达散射截面测量技术领域。它解决了2.52THz波段的不同尺寸目标雷达散射截面的测量问题。本发明包括CO2激光泵浦连续太赫兹激光器、斩波器、分光片、电控可变扩束比装置、P3离轴抛物面镜、P2离轴抛物面镜、精密运动平台、M1全反镜、P1离轴抛物面镜、散射信号探测器、第一锁相放大器模块、计算机和斩波器的驱动器。本发明适用于不同尺寸目标雷达散射截面的测量。

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