用于测量半透明材料试样发射率的抗背景噪声的试样加热系统

    公开(公告)号:CN103630567B

    公开(公告)日:2015-09-09

    申请号:CN201310716967.5

    申请日:2013-12-23

    Abstract: 用于测量半透明材料试样发射率的抗背景噪声的试样加热系统,它涉及一种加热系统,属于半透明材料加热技术领域。本发明为了解决现有半透明材料发射率测量装置中的材料试样加热系统体积庞大、结构复杂、试样背景辐射特性复杂、成本高的技术问题。本发明包括加热器和PID温度控制器,加热器包括加热器壳体、方形弹簧固定片、加热片电源引线、圆形平板电阻加热片、温度传感器探头、加热器保温层和温度传感器引线。本发明在加热片的半透明材料试样侧涂有黑体涂层,使得试样加热过程中背景辐射特性简单,有利于半透明材料发射率测量中背景辐射的扣除;本发明采用电阻加热片直接加热的方式,具有体积小、结构简单、加热快、成本低、耗能低的优点。

    用于测量半透明材料试样发射率的抗背景噪声的试样加热系统

    公开(公告)号:CN103630567A

    公开(公告)日:2014-03-12

    申请号:CN201310716967.5

    申请日:2013-12-23

    Abstract: 用于测量半透明材料试样发射率的抗背景噪声的试样加热系统,它涉及一种加热系统,属于半透明材料加热技术领域。本发明为了解决现有半透明材料发射率测量装置中的材料试样加热系统体积庞大、结构复杂、试样背景辐射特性复杂、成本高的技术问题。本发明包括加热器和PID温度控制器,加热器包括加热器壳体、方形弹簧固定片、加热片电源引线、圆形平板电阻加热片、温度传感器探头、加热器保温层和温度传感器引线。本发明在加热片的半透明材料试样侧涂有黑体涂层,使得试样加热过程中背景辐射特性简单,有利于半透明材料发射率测量中背景辐射的扣除;本发明采用电阻加热片直接加热的方式,具有体积小、结构简单、加热快、成本低、耗能低的优点。

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