公开(公告)号：CN103439644B

公开(公告)日：2015-09-23

申请号：CN201310351573.4

申请日：2013-08-13

Applicant: 哈尔滨工业大学

Inventor： 杨智明 ,  乔立岩 ,  汪俊杰 ,  刘思廷 ,  付宁 ,  彭喜元

IPC: G01R31/28

Abstract: 一种SRAM-based FPGA退化测试系统，属于电力电子技术领域。为了解决现有用于检测NBTI退化效应使FPGA产生延时量的测量系统测量精度低且进一步解决了无法同时测量多种应力的问题，本发明包括示波器、控制器、程控双路电源、辅助控制器FPGA、恒温箱、A/D转换器、被测FPGA和晶振；控制器控制辅助控制器FPGA，且辅助控制器FPGA输出的信号应力、辅助控制器FPGA通过程控双路电源输出的电压应力和通过恒温箱输出的温度应力同时施加给被测FPGA，示波器用于接收被测FPGA输出的信号。本发明主要应用在检测NBTI退化效应领域。

公开(公告)号：CN103439644A

公开(公告)日：2013-12-11

申请号：CN201310351573.4

申请日：2013-08-13

Applicant: 哈尔滨工业大学

Inventor： 杨智明 ,  乔立岩 ,  汪俊杰 ,  刘思廷 ,  付宁 ,  彭喜元

IPC: G01R31/28

Abstract: 一种SRAM-based FPGA退化测试系统，属于电力电子技术领域。为了解决现有用于检测NBTI退化效应使FPGA产生延时量的测量系统测量精度低且进一步解决了无法同时测量多种应力的问题，本发明包括示波器、控制器、程控双路电源、辅助控制器FPGA、恒温箱、A/D转换器、被测FPGA和晶振；控制器控制辅助控制器FPGA，且辅助控制器FPGA输出的信号应力、辅助控制器FPGA通过程控双路电源输出的电压应力和通过恒温箱输出的温度应力同时施加给被测FPGA，示波器用于接收被测FPGA输出的信号。本发明主要应用在检测NBTI退化效应领域。

公开(公告)号：CN103472385A

公开(公告)日：2013-12-25

申请号：CN201310455614.4

申请日：2013-09-29

Applicant: 哈尔滨工业大学

Inventor： 杨智明 ,  乔立岩 ,  庞文青 ,  刘思廷 ,  付宁 ,  彭喜元

IPC: G01R31/28

Abstract: 一种带故障注入功能的通用型电路故障仿真系统，属于电学领域，本发明为了解决现有的故障仿真系统由于缺乏有效的故障注入手段，而导致的无法准确、高效的获取故障数据，难以满足现有故障诊断方法时效性验证需求的问题。本发明所述故障注入模块与上位计算机通过LAN网络连接，通过解析上位计算机发出的控制命令，实现故障设置信号的传输和控制；故障注入模块的M路驱动信号输出端连接具有故障仿真功能的电路模块的M路驱动信号输入端，所述具有故障仿真功能的电路模块的电路故障仿真信号输出端连接数据采集模块的电路故障仿真信号输入端，其中，M为正整数；数据采集模块与上位计算机通过LAN网络实现连接，完成数据的交互。用于对各种电路板进行故障样本的采集。