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公开(公告)号：CN119200014A
公开(公告)日：2024-12-27
申请号：CN202411426068.6
申请日：2024-10-12
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 同方威视科技(北京)有限公司
Abstract: 本申请提供了一种辐射扫描检查设备，包括：基体，被配置为在辐射扫描检查设备对被检物进行扫描检查时形成供被检物通过的通道；透射扫描装置，包括用于发射射线的射线源和用于探测射线源发出的射线的探测器；臂架，透射扫描装置安装于臂架上，臂架相对于基体可转动地设置，以通过臂架相对于基体转动使透射扫描装置具有至少两个扫描工作位置，其中，在不同的扫描工作位置，射线源的出束位置的高度不同。本申请提供的辐射扫描检查设备对被检物进行检查时成像信息中底盘信息与货物信息无重叠，提高成像质量，最终提高检查的准确率。
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公开(公告)号：CN116184516A
公开(公告)日：2023-05-30
申请号：CN202211724738.3
申请日：2022-12-30
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 同方威视科技(北京)有限公司
Abstract: 本申请涉及检查系统及其安装方法。检查系统包括：第一成像系统，包括：第一舱体以及平台组件，平台组件为一体式n型平台，该一体式n型平台具有平台结构和位于平台结构两侧的第一竖臂结构和第二竖臂结构，第一舱体附接于平台结构上，第一探测器组件被设置在平台组件中；以及第二成像系统，包括：第二舱体、上臂架和竖臂架，上臂架为一体式n型臂架，上臂架的第三竖臂结构与第二舱体附接，上臂架的第四竖臂结构与竖臂架的上端附接，第二舱体的侧部、竖臂架和上臂架中的至少一者包括第二探测器组件，其中平台组件的第一竖臂结构附接到第二舱体。
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公开(公告)号：CN116148936A
公开(公告)日：2023-05-23
申请号：CN202211731356.3
申请日：2022-12-30
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 同方威视科技(北京)有限公司
Abstract: 本申请涉及检查系统及其安装方法。一种检查系统，包括：舱体，该舱体包括射线扫描组件；上臂架，该上臂架为一体式n型臂架，该一体式n型臂架具有横臂结构和位于横臂结构两侧的第一竖臂结构及第二竖臂结构，其中第一竖臂结构与舱体附接；以及竖臂架，该竖臂架的上端与第二竖臂结构附接，并且其中竖臂架和上臂架中的至少一者包括探测器组件。
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公开(公告)号：CN218886185U
公开(公告)日：2023-04-18
申请号：CN202223598594.X
申请日：2022-12-30
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 同方威视科技(北京)有限公司
Abstract: 本实用新型涉及检查系统。检查系统包括：第一成像系统，包括：第一舱体以及平台组件，平台组件为一体式n型平台，该一体式n型平台具有平台结构和位于平台结构两侧的第一竖臂结构和第二竖臂结构，第一舱体附接于平台结构上，第一探测器组件被设置在平台组件中；以及第二成像系统，包括：第二舱体、上臂架和竖臂架，上臂架为一体式n型臂架，上臂架的第三竖臂结构与第二舱体附接，上臂架的第四竖臂结构与竖臂架的上端附接，第二舱体的侧部、竖臂架和上臂架中的至少一者包括第二探测器组件，其中平台组件的第一竖臂结构附接到第二舱体。
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公开(公告)号：CN218956829U
公开(公告)日：2023-05-02
申请号：CN202223596076.4
申请日：2022-12-30
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 同方威视科技(北京)有限公司
Abstract: 本实用新型涉及检查系统。一种检查系统，包括：舱体，该舱体包括射线扫描组件；上臂架，该上臂架为一体式n型臂架，该一体式n型臂架具有横臂结构和位于横臂结构两侧的第一竖臂结构及第二竖臂结构，其中第一竖臂结构与舱体附接；以及竖臂架，该竖臂架的上端与第二竖臂结构附接，并且其中竖臂架和上臂架中的至少一者包括探测器组件。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN101762614B
公开(公告)日：2014-11-12
申请号：CN200810240838.2
申请日：2008-12-24
Applicant: 同方威视技术股份有限公司
Abstract: 本发明提供一种能在X方向和Y方向分别做±5mm的调整的X射线行李包检查设备辐射源的调整结构。该X射线行李包检查设备辐射源的调整结构包括：滑环安装盘(5)，用于安装X光机调整机构；托架底板(8)，安装在滑环安装盘(5)上；X光机(17)，作为辐射源；X光机支架(15)，用于安装X光机(17)；Y向安装调节机构；和X向定位调节机构；通过Y向安装调节机构，将X光机支架(15)固定到托架底板(8)上并调节X光机支架(15)在Y方向上的位置，通过X向定位调节机构，调节X光机(17)在X方向上的位置。
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公开(公告)号：CN101788505A
公开(公告)日：2010-07-28
申请号：CN200910077841.1
申请日：2009-01-22
Applicant: 同方威视技术股份有限公司
IPC: G01N23/04
Abstract: 本发明的目的在于提供一种设计合理、结构简单、便于生产、安装和检修的用于X射线行李包检查设备的辐射成像结构。该用于X射线行李包检查设备的辐射成像结构，具备夹层式的整体支架(10)，该整体支架(10)包括支架体(2)、X光机组件安装位置(1)、探测器支架安装位置(3)、用于安装通道的通道安装面(4)、和前准直器安装位置(5)；在X光机组件安装位置(1)上安装有X光机组件；在探测器支架安装位置(3)上，安装有探测器支架(60)，在探测器支架(60)上安装有探测器阵列(50)；在前准直器安装位置(5)上，安装有前准直器(20)。
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公开(公告)号：CN119200016A
公开(公告)日：2024-12-27
申请号：CN202411638925.9
申请日：2024-11-15
Applicant: 同方威视技术股份有限公司
IPC: G01V5/226
Abstract: 本申请提供了一种辐射检查设备，包括：安装座；支撑架；连接杆，与所述支撑架和所述安装座共同限定用于被检查对象通过的扫描通道，所述连接杆的第一端与所述安装座可转动地连接，所述连接杆的第二端与所述支撑架可转动地连接；和扫描装置，安装于所述支撑架上，包括射线源和探测装置，所述扫描装置被配置为对通过所述扫描通道的所述被检查对象进行辐射检查；其中，所述连接杆被配置为带动所述支撑架相对于所述安装座活动而改变所述扫描通道的尺寸和所述扫描装置的扫描范围。该辐射检查设备可以扩大被检查对象的范围。
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公开(公告)号：CN101762613B
公开(公告)日：2012-12-26
申请号：CN200810240837.8
申请日：2008-12-24
Applicant: 同方威视技术股份有限公司
Abstract: 本发明涉及用于X射线检查的探测器和准直器的组合装置及方法。该组合装置包括：多个探测器；弧形支撑臂架，沿弧线方向设有贯通内外侧的缝隙；和栅格准直器，包括多个栅格。多个探测器沿弧线方向安装在弧形支撑臂架的外侧，栅格准直器沿弧线方向安装在弧形支撑臂架的内侧，相应的探测器与相应的栅格通过弧形支撑臂架的缝隙沿指向弧形支撑臂架的圆心的方向对准。根据本发明的组合装置能够提高栅格准直器的效率及可靠性，另外也能够解决探测器模块不能独立于栅格准直器进行拆装的问题。
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