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公开(公告)号：CN1510413A
公开(公告)日：2004-07-07
申请号：CN02158728.0
申请日：2002-12-26
Applicant: 南开大学
Abstract: 本发明公开了一种光学参数测量装置。解决了现有仪器在垂直入射光条件下不能测量材料的光反射率R、在不同角度测量时R与T不相关、光吸收率α出现负值等问题。技术方案是：主要包括光源、标准反射镜、分光器、检测器与计算机构成；其特征是在光源输出的光路中增设半透半反镜；标准反射镜安装在与通过半透半反镜的入射光成90°角处，并在光源与标准反射镜之间的垂直方位依次连接分光器、检测器、计算机。本发明实现了在垂直入射光条件下测量材料的光反射率R，保证与垂直光透过率T为相关数据；尤其是当材料为透明薄膜时，有光干涉也能保证R与T是相关数据。本发明为光学测量仪器家族增添了一种测量准确无误的光学参数测量装置。
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公开(公告)号：CN2589970Y
公开(公告)日：2003-12-03
申请号：CN02294292.0
申请日：2002-12-26
Applicant: 南开大学
Abstract: 本实用新型公开了一种光学参数测量装置。解决了现有仪器在垂直入射光条件下不能测量材料的光反射率R、在不同角度测量时R与T不相关、光吸收率α出现负值等问题。技术方案是：主要包括光源、标准反射镜、分光器、检测器与计算机构成；其特征是在光源输出的光路中增设半透半反镜；标准反射镜安装在与通过半透半反镜的入射光成90°角处，并在光源与标准反射镜之间的垂直方位依次连接分光器、检测器、计算机。本实用新型实现了在垂直入射光条件下测量材料的光反射率R，保证与垂直光透过率T为相关数据；尤其是当材料为透明薄膜时，有光干涉也能保证R与T是相关数据。本实用新型为光学测量仪器家族增添了一种测量准确无误的光学参数测量装置。
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公开(公告)号：CN2589968Y
公开(公告)日：2003-12-03
申请号：CN02294293.9
申请日：2002-12-26
Applicant: 南开大学
Abstract: 本实用新型公开了一种多功能光电参数测量装置。解决了现有仪器垂直入射光条件下不能测量光反射率R、测量功能单一等问题。技术方案：光源与单色仪相连，在单色仪输出狭缝处安装斩波器，斩波器输出端设置半透半反镜M，在透射光路中有一聚焦透镜，焦点在样品室内；样品室的一侧且与透射光束相垂直处安装激光器，另一侧安装位置敏感探测器；样品室与激光器之间和样品室与位置敏感探测器之间分别安装有聚焦透镜，在反射光路上设置光探测器；光探测器和位置敏感器的输出分别与锁相放大器的输入相连，锁相放大器的输出与计算机的输入相连。实现一机多功能。能节省大量的设备资金、实验室场地及维护管理方面的人力资源。
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