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公开(公告)号：CN118730796B
公开(公告)日：2024-11-19
申请号：CN202411226137.9
申请日：2024-09-02
Applicant: 南京大学
Abstract: 本发明公开一种石英晶体微天平、基于石英晶体微天平的检测方法及装置，应用于微小质量测量技术领域，石英晶体微天平包括：谐振模块、光学成像模块和数据处理模块；光学成像模块包括显微镜及图像采集设备；装配体固定于显微镜的载物台上；图像采集设备用于对显微镜放大的石英晶体微天平芯片的表面进行光学成像，获得图像，并将图像发送至数据处理模块；数据处理模块，用于对接收的图像进行分析处理，确定待测样品的光学谐振频率；根据光学谐振频率确定待测样品的质量，本发明可以提升石英晶体微天平的测量灵敏度，脱离Sauerbrey方程的限制，同时测出石英晶体微天平芯片表面不同位置的谐振频率，实现单芯片的多通道多样品检测。
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公开(公告)号：CN118730796A
公开(公告)日：2024-10-01
申请号：CN202411226137.9
申请日：2024-09-02
Applicant: 南京大学
Abstract: 本发明公开一种石英晶体微天平、基于石英晶体微天平的检测方法及装置，应用于微小质量测量技术领域，石英晶体微天平包括：谐振模块、光学成像模块和数据处理模块；光学成像模块包括显微镜及图像采集设备；装配体固定于显微镜的载物台上；图像采集设备用于对显微镜放大的石英晶体微天平芯片的表面进行光学成像，获得图像，并将图像发送至数据处理模块；数据处理模块，用于对接收的图像进行分析处理，确定待测样品的光学谐振频率；根据光学谐振频率确定待测样品的质量，本发明可以提升石英晶体微天平的测量灵敏度，脱离Sauerbrey方程的限制，同时测出石英晶体微天平芯片表面不同位置的谐振频率，实现单芯片的多通道多样品检测。
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