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公开(公告)号:CN119822319A
公开(公告)日:2025-04-15
申请号:CN202411933426.2
申请日:2024-12-26
Applicant: 南京大学
Abstract: 本发明公开了一种高导电晶硅纳米线阵列的制备方法,包括以下步骤:步骤1、利用光刻和刻蚀在氧化硅片或柔性衬底表面制备引导沟槽,随后利用光刻和蒸镀在所述引导沟槽末端制备催化剂金属条带;步骤2、在PECVD设备中,利用氢等离子体处理,将催化剂金属还原成液滴,随后沉积非晶硅,并在真空中加热退火生长晶硅纳米线阵列;步骤3、利用氢等离子体刻蚀残余非晶硅,并通过450℃低温热退火处理脱氢,获得高导电晶硅纳米线阵列。本发明方法制备的高导电晶硅纳米线具有优异的电学特性、形貌和位置精确可控、易于集成的特点,且制备温度低、无需额外掺杂工艺。形成的温度传感单元具有尺寸小、灵敏度高、成本低和易大面积集成的优势。