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公开(公告)号:CN111487927B
公开(公告)日:2022-02-15
申请号:CN202010340749.6
申请日:2020-04-26
Applicant: 华中科技大学
IPC: G05B19/4097
Abstract: 本发明属于数控加工相关技术领域,并公开了一种基于双代码联合作用的样条轨迹控制指令优化方法。该方法包括下列步骤:(a)设定待加工对象的理想加工轨迹,根据设定的理想加工轨迹生成G代码;(b)绘制G代码对应的加工轨迹,以此获得实际加工轨迹,将该实际加工轨迹与所述理想加工轨迹进行比对,获得区别特征,在所述G代码中寻找与所述区别特征对应的代码,即区别特征代码;(c)根据所述区别特征,对于所述区别特征代码进行改写,获得新的加工代码,该新的加工代码使得数控机床的实际加工轨迹与理想加工轨迹相同,至此实现加工轨迹的优化。通过本发明,优化加工轨迹,提高加工精度,减小加工误差。
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公开(公告)号:CN111487927A
公开(公告)日:2020-08-04
申请号:CN202010340749.6
申请日:2020-04-26
Applicant: 华中科技大学
IPC: G05B19/4097
Abstract: 本发明属于数控加工相关技术领域,并公开了一种基于双代码联合作用的样条轨迹控制指令优化方法。该方法包括下列步骤:(a)设定待加工对象的理想加工轨迹,根据设定的理想加工轨迹生成G代码;(b)绘制G代码对应的加工轨迹,以此获得实际加工轨迹,将该实际加工轨迹与所述理想加工轨迹进行比对,获得区别特征,在所述G代码中寻找与所述区别特征对应的代码,即区别特征代码;(c)根据所述区别特征,对于所述区别特征代码进行改写,获得新的加工代码,该新的加工代码使得数控机床的实际加工轨迹与理想加工轨迹相同,至此实现加工轨迹的优化。通过本发明,优化加工轨迹,提高加工精度,减小加工误差。
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