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发明公开
带宽的测试方法、装置、电子设备及存储介质审中-实审

公开(公告)号：CN116707635A

公开(公告)日：2023-09-05

申请号：CN202310450073.X

申请日：2023-04-24

Applicant: 北京邮电大学

Inventor： 杨展予 , 马飞 , 宋海艳 , 马博伟 , 王静文 , 罗斌 , 喻松

IPC: H04B10/079

Abstract: 本公开提供一种带宽的测试方法、装置、电子设备及存储介质，包括：获取至少两个光信号；对所述至少两个光信号进行耦合处理，得到耦合后的光信号；基于所述耦合后的光信号以及预设的直流电压值确定所述至少两个光信号的频率；基于所述频率确定带宽。在本公开中，首先先获取了两路光信号，之后基于一定的耦合比例对两路光信号进行耦合处理，最后使用预先设置好的直流电压对将耦合处理后得到的光信号进行处理，得到两路光信号的功率，之后再基于功率确定了带宽。

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