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公开(公告)号：CN109870610A
公开(公告)日：2019-06-11
申请号：CN201910159389.7
申请日：2019-03-04
Applicant: 北京邮电大学
Abstract: 本发明提供了一种温湿偏置盐污染环境的USB长期安全性检测方法。包括以下步骤：一，样品准备。待测USB样品进行500次数插拔磨损；对样品滴入40微升2％(重量百分比)NaCl溶液并干燥。二，试验环境准备。设置温湿箱参数；USB样品接入多通路绝缘电阻测试系统，设置测量参数；设置偏置电压。三，进行实验。打开稳压源提供偏置电压，温湿箱运行在温湿循环模式；启动多通路绝缘电阻测试系统；温湿偏置实验持续24小时。四，数据结果处理。温湿偏置实验结束后干燥样品，采用四点法测量USB的VBUS端接触电阻，对多个USB样品的接触电阻进行威布尔拟合得到特征值，以进行USB长期安全性评判。本发明中提供的测试方法简单高效，并且实验原理符合实际应用情况。
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