公开(公告)号：CN109831294B

公开(公告)日：2020-11-27

申请号：CN201910002292.5

申请日：2019-01-02

Applicant: 北京邮电大学 ,  齐齐哈尔大学

Inventor： 董亮 ,  张洪欣 ,  朱磊 ,  孙绍飞 ,  甘罕 ,  李强 ,  崔晓彤

IPC: H04L9/06 ,  H04L29/06

Abstract: 本发明实施例提供一种SPN型分组密码抗故障攻击能力评估方法及装置，所述方法包括：获取SPN型分组密码的密文差分；根据密文差分，利用不可能故障差分路径，获取剩余秘钥空间；根据逆代数差分方程，获取剩余秘钥个数；将剩余秘钥个数，输入至预设的算法模型，输出最终攻击次数，以供根据最终攻击次数评估SPN型分组密码的抗故障攻击能力。本发明实施例提供的SPN型分组密码抗故障攻击能力评估方法及装置，结合不可能故障差分攻击和代数故障差分分析能够对SPN型分组密码进行快速的分析，并通过该方法能够有效地模拟激光注入过程中由于扰动产生的冗余故障，有效并准确地预测攻击次数，更加实际和快速地分析分组密码的抗故障攻击能力。

公开(公告)号：CN106845286B

公开(公告)日：2019-11-05

申请号：CN201611162926.6

申请日：2016-12-15

Applicant: 北京邮电大学

Inventor： 张洪欣 ,  米芳 ,  甘罕 ,  王振友 ,  朱瑞

IPC: G06F21/76 ,  G06F21/56

Abstract: 本发明提供一种硬件木马检测方法、装置及系统，属于信息安全技术领域。该方法包括：检测目标芯片在工作时泄露的电磁信号；根据检测到的电磁信号，获取对应的目标电磁信号记录；基于预先训练的木马检测支持向量机，根据目标电磁信号记录，得到目标芯片相应的检测结果。本发明通过基于预先训练的木马检测支持向量机，根据检测到泄露的目标电磁信号记录，得到目标芯片相应的检测结果。由于是将采集到的大量电磁信号通过预先训练的硬件木马检测支持向量机来自动检测硬件木马，而非仅对单一电磁信号的关联关系进行分析来发现硬件木马，从而基于训练大量的电磁信号，能够发现硬件木马对芯片所产生的电磁信号影响。因此，硬件木马检测分辨率较高。

公开(公告)号：CN106845286A

公开(公告)日：2017-06-13

申请号：CN201611162926.6

申请日：2016-12-15

Applicant: 北京邮电大学

Inventor： 张洪欣 ,  米芳 ,  甘罕 ,  王振友 ,  朱瑞

IPC: G06F21/76 ,  G06F21/56

Abstract: 本发明提供一种硬件木马检测方法、装置及系统，属于信息安全技术领域。该方法包括：检测目标芯片在工作时泄露的电磁信号；根据检测到的电磁信号，获取对应的目标电磁信号记录；基于预先训练的木马检测支持向量机，根据目标电磁信号记录，得到目标芯片相应的检测结果。本发明通过基于预先训练的木马检测支持向量机，根据检测到泄露的目标电磁信号记录，得到目标芯片相应的检测结果。由于是将采集到的大量电磁信号通过预先训练的硬件木马检测支持向量机来自动检测硬件木马，而非仅对单一电磁信号的关联关系进行分析来发现硬件木马，从而基于训练大量的电磁信号，能够发现硬件木马对芯片所产生的电磁信号影响。因此，硬件木马检测分辨率较高。

公开(公告)号：CN109831294A

公开(公告)日：2019-05-31

申请号：CN201910002292.5

申请日：2019-01-02

Applicant: 北京邮电大学 ,  齐齐哈尔大学

Inventor： 董亮 ,  张洪欣 ,  朱磊 ,  孙绍飞 ,  甘罕 ,  李强 ,  崔晓彤

IPC: H04L9/06 ,  H04L29/06

Abstract: 本发明实施例提供一种SPN型分组密码抗故障攻击能力评估方法及装置，所述方法包括：获取SPN型分组密码的密文差分；根据密文差分，利用不可能故障差分路径，获取剩余秘钥空间；根据逆代数差分方程，获取剩余秘钥个数；将剩余秘钥个数，输入至预设的算法模型，输出最终攻击次数，以供根据最终攻击次数评估SPN型分组密码的抗故障攻击能力。本发明实施例提供的SPN型分组密码抗故障攻击能力评估方法及装置，结合不可能故障差分攻击和代数故障差分分析能够对SPN型分组密码进行快速的分析，并通过该方法能够有效地模拟激光注入过程中由于扰动产生的冗余故障，有效并准确地预测攻击次数，更加实际和快速地分析分组密码的抗故障攻击能力。

公开(公告)号：CN106814257A

公开(公告)日：2017-06-09

申请号：CN201611119566.1

申请日：2016-12-07

Applicant: 北京邮电大学

Inventor： 张洪欣 ,  朱瑞 ,  甘罕 ,  王振友 ,  米芳

IPC: G01R29/08 ,  G01R13/02 ,  G06F21/44 ,  G06K9/62

CPC classification number: G01R29/08 ,  G01R13/0209 ,  G06F21/44 ,  G06K9/6269

Abstract: 本发明提供一种芯片类型识别系统、方法及装置，属于信息安全技术领域。该芯片类型识别方法包括：对芯片工作时泄露的电磁信号进行检测；当检测到采集到的电磁信号大于第一预设阈值时，以当前时刻为起始点，对后续的电磁信号进行记录，直到检测到电磁信号小于第二预设阈值为止，得到对应的目标电磁信号记录；基于预先训练的支持向量机，根据目标电磁信号记录确定芯片的芯片类型。本发明通过对芯片泄露的电磁信号进行检测，基于预先训练的支持向量机，根据目标电磁信号记录确定芯片类型。由于是基于机器学习的方法，将采集到的电磁信号通过预先训练的支持向量机来自动识别芯片类型，识别过程可用于任何场合，从而识别过程通用性及识别率较高。