基于三次样条插值法进行天线远场测量的方法及装置

    公开(公告)号:CN106771672B

    公开(公告)日:2019-03-19

    申请号:CN201710093495.0

    申请日:2017-02-21

    Abstract: 本发明实施例提供了一种基于三次样条插值法进行天线远场测量的方法及装置,该方法包括:采集天线的第一球面近场数据;利用三次样条插值法对该第一球面近场数据对应的采样点进行插值,并确定插值所生成的各个插值节点对应的球面近场数据;将插值所生成的各个插值节点对应的球面近场数据和该第一球面近场数据组合,得到该天线的第二球面近场数据;根据该天线的第二球面近场数据,求得该天线的远场方向图。通过本方案既能够降低天线近场测量的采样复杂度,又能够保证天线的远场方向图具有较高的精确度。

    一种天线的远场方向图的测量方法和装置

    公开(公告)号:CN107942147B

    公开(公告)日:2019-09-20

    申请号:CN201711130482.2

    申请日:2017-11-15

    Abstract: 本发明实施例提供了天线的远场方向图的测量方法、装置、电子设备、存储介质以及测量系统,采用具有宽频双极化天线的近场测量探头,该宽频双极化天线包括第一端口和第二端口,该方法包括:获取使用所述近场测量探头对待测天线进行近场测量得到的近场数据;获取第一微分算子和第二微分算子;分别基于表示第一端口探头特性的第一微分算子和表示第二端口探头特性的第二微分算子以及所述近场数据,采用预设的近远场变换算法,分别确定待测天线的远场场强的Eθ分量和分量;对所述远场场强的Eθ分量和分量进行合成,得到待测天线的远场方向图。通过上述方案,能够在满足一定测试精度的情况下提高测试效率。

    一种天线的远场方向图的测量方法和装置

    公开(公告)号:CN107942147A

    公开(公告)日:2018-04-20

    申请号:CN201711130482.2

    申请日:2017-11-15

    Abstract: 本发明实施例提供了天线的远场方向图的测量方法、装置、电子设备、存储介质以及测量系统,采用具有宽频双极化天线的近场测量探头,该宽频双极化天线包括第一端口和第二端口,该方法包括:获取使用所述近场测量探头对待测天线进行近场测量得到的近场数据;获取第一微分算子和第二微分算子;分别基于表示第一端口探头特性的第一微分算子和表示第二端口探头特性的第二微分算子以及所述近场数据,采用预设的近远场变换算法,分别确定待测天线的远场场强的Eθ分量和 分量;对所述远场场强的Eθ分量和 分量进行合成,得到待测天线的远场方向图。通过上述方案,能够在满足一定测试精度的情况下提高测试效率。

    基于三次样条插值法进行天线远场测量的方法及装置

    公开(公告)号:CN106771672A

    公开(公告)日:2017-05-31

    申请号:CN201710093495.0

    申请日:2017-02-21

    CPC classification number: G01R29/10

    Abstract: 本发明实施例提供了一种基于三次样条插值法进行天线远场测量的方法及装置,该方法包括:采集天线的第一球面近场数据;利用三次样条插值法对该第一球面近场数据对应的采样点进行插值,并确定插值所生成的各个插值节点对应的球面近场数据;将插值所生成的各个插值节点对应的球面近场数据和该第一球面近场数据组合,得到该天线的第二球面近场数据;根据该天线的第二球面近场数据,求得该天线的远场方向图。通过本方案既能够降低天线近场测量的采样复杂度,又能够保证天线的远场方向图具有较高的精确度。

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