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公开(公告)号：CN116659815A
公开(公告)日：2023-08-29
申请号：CN202310403775.2
申请日：2023-04-14
Applicant: 北京邮电大学
IPC: G01M11/02
Abstract: 本发明涉及光学器件技术领域，尤其涉及一种狭缝光栅三维光场显示器的测试方法和装置，首先利用光路可逆的原理，获取折射光线在显示器的显示源上的交点坐标以及交点坐标在显示源上所属的第一像素网格；确定多视点合成图中与第一像素网格对应像素的第一RGB值；根据能量百分比以及交点坐标对应的第一RGB值，确定交点坐标的第二RGB值；将第二RGB值填充至交点坐标对应的第一像素网格中，以得到显示器对应的二维测试图像。通过对该二维测试图像的显示质量分析，即可确定狭缝光栅三维光场显示器的产品参数设计是否合理，从而进行进一步的改进，以保证狭缝光栅三维光场显示器的显示效果达到较高的精度要求。
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