-
公开(公告)号：CN101655344A
公开(公告)日：2010-02-24
申请号：CN200810147441.9
申请日：2008-08-18
Applicant: 北京航天计量测试技术研究所
Abstract: 本发明是一种电子经纬仪空间坐标测量系统的校准方法，旨在满足电子经纬仪测量系统在水平360°，俯仰±45°角度内，沿任意方向在数十米范围上进行校准的需要。本发明包括如下步骤：步骤1.放置仪器和靶标；步骤2.用激光雷达扫描仪对靶标赋值，组成标准器具组；步骤3.被校准的电子经纬仪系统测量每个靶标得到测量值；步骤4.将电子经纬仪的测量值转换到激光雷达扫描仪的测量坐标系下；步骤5.经转换的电子经纬仪测量值与其标准值比较，并通过软件分析得到电子经纬仪测量系统的测量偏差及测量不确定度评估。本发明满足电子经纬仪测量系统在水平360°，俯仰±45°角度内，沿任意方向在数十米范围上进行校准的需要。
-
公开(公告)号：CN101655344B
公开(公告)日：2011-11-09
申请号：CN200810147441.9
申请日：2008-08-18
Applicant: 北京航天计量测试技术研究所
Abstract: 本发明是一种电子经纬仪空间坐标测量系统的校准方法，旨在满足电子经纬仪测量系统在水平360°，俯仰±45°角度内，沿任意方向在数十米范围上进行校准的需要。本发明包括如下步骤：步骤1：放置仪器和靶标；步骤2：用激光雷达扫描仪对靶标赋值，组成标准器具组；步骤3：被校准的电子经纬仪系统测量每个靶标得到测量值；步骤4：将电子经纬仪的测量值转换到激光雷达扫描仪的测量坐标系下；步骤5：经转换的电子经纬仪测量值与其标准值比较，并通过软件分析得到电子经纬仪测量系统的测量偏差及测量不确定度评估。本发明满足电子经纬仪测量系统在水平360°，俯仰±45°角度内，沿任意方向在数十米范围上进行校准的需要。
-
公开(公告)号：CN101655343B
公开(公告)日：2011-11-09
申请号：CN200810147440.4
申请日：2008-08-18
Applicant: 北京航天计量测试技术研究所
Abstract: 本发明是一种电子经纬仪空间坐标测量系统校准用靶标、底座和基准尺，旨在满足电子经纬仪测量系统在水平360°，俯仰±45°角度内，沿任意方向在数十米范围上进行校准的需要。其中：靶标为轴承钢球经过线切割加工而成的半球或球缺；包括粘贴有纸质环形标志的端面，及一种放置如上所述靶标的底座，一种安装如上所述靶标的基准尺。本发明满足了电子经纬仪测量系统在水平360°，俯仰±45°角度内，沿任意方向在数十米范围上进行校准的需要，并且，应用于校准的基准点的坐标值可以用精度更高的仪器，如激光雷达扫描仪实时的修正，以保证高的校准精度和降低对基准放置点环境的依赖。
-
公开(公告)号：CN101655343A
公开(公告)日：2010-02-24
申请号：CN200810147440.4
申请日：2008-08-18
Applicant: 北京航天计量测试技术研究所
Abstract: 本发明是一种电子经纬仪空间坐标测量系统校准用靶标、底座和基准尺，旨在满足电子经纬仪测量系统在水平360°，俯仰±45°角度内，沿任意方向在数十米范围上进行校准的需要。其中：靶标为轴承钢球经过线切割加工而成的半球或球缺；包括粘贴有纸质环形标志的端面，及一种放置如上所述靶标的底座，一种安装如上所述靶标的基准尺。本发明满足了电子经纬仪测量系统在水平360°，俯仰±45°角度内，沿任意方向在数十米范围上进行校准的需要，并且，应用于校准的基准点的坐标值可以用精度更高的仪器，如激光雷达扫描仪实时的修正，以保证高的校准精度和降低对基准放置点环境的依赖。
-
-
-
Search Results
4
records
(took 0.057 seconds)
