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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN103698275A
公开(公告)日：2014-04-02
申请号：CN201310681987.3
申请日：2013-12-12
Applicant: 北京理工大学
Abstract: 本发明提供了一种在透射和反射测量间切换的测光装置，包括光源、探测器、透射测量光路组件、反射测量光路组件和样品架组件：样品承载于样品架组件上，样品架组件可带动样品旋转；在装置采用透射测量方式时，透射测量光路组件放置于光源与探测器之间；在装置采用反射测量方式时，反射测量光路组件放置于光源与探测器之间,最终完成两种方式的测量；本发明的测光装置可实现在透射测量状态和反射测量状态之间的快速切换，方便使用；光源、探测器及样品架组件，在两种测量模式下共用，仅替换尽可能少的光路元件，并尽量保持其它部件的方位不变，使产品具有简单可靠，成本低廉的特点。
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公开(公告)号：CN102298360A
公开(公告)日：2011-12-28
申请号：CN201110174420.8
申请日：2011-06-24
Applicant: 北京理工大学
IPC: G05B19/4155
Abstract: 本发明公开了一种自动生成数控加工代码系统，包括输入模块、分析模块、数据库、输出模块、显示模块和修正模块；其中输入模块和分析模块相连，分析模块和输出模块相连，输出模块与数据库、显示模块、修正模块、数控系统分别相连；显示模块和修正模块相连；首先根据待加工的零件人工选择输入模块中的子模块，在选中的子模块中输入参数，然后传送给分析模块中相应的算法模块；分析模块根据接收到的参数选择相应的算法模块进行分析后生成数控代码并通过输出模块发送给数控系统；本发明在分析模块中的各算法模块中预制的标准的数控代码的框架为数控系统所需的，所以自动生成的数控代码在格式上会和数控系统一致。
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公开(公告)号：CN101200039A
公开(公告)日：2008-06-18
申请号：CN200710303602.4
申请日：2007-12-20
Applicant: 北京理工大学
IPC: B23Q3/155
Abstract: 本发明为一种微小型双列盘式自动换刀机构，安装在转盘上一个刀卡单元卡紧两把刀具，从而形成两列刀位；刀具可实现六个自由度的微动；刀柄卡紧机构为开口圆柱薄片弹簧，刀柄的卡紧依靠该弹簧被挤压产生的弹簧力实现；采用本发明能够实现数控加工中心上使用的微小型刀具的自动换刀的目的，满足微小型数控加工中心小空间大容刀量的需求，将填补国内外微小型刀具尤其是微小型高转速刀具自动换刀系统的空白。
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公开(公告)号：CN102298360B
公开(公告)日：2013-04-10
申请号：CN201110174420.8
申请日：2011-06-24
Applicant: 北京理工大学
IPC: G05B19/4155
Abstract: 本发明公开了一种自动生成数控加工代码系统，包括输入模块、分析模块、数据库、输出模块、显示模块和修正模块；其中输入模块和分析模块相连，分析模块和输出模块相连，输出模块与数据库、显示模块、修正模块、数控系统分别相连；显示模块和修正模块相连；首先根据待加工的零件人工选择输入模块中的子模块，在选中的子模块中输入参数，然后传送给分析模块中相应的算法模块；分析模块根据接收到的参数选择相应的算法模块进行分析后生成数控代码并通过输出模块发送给数控系统；本发明在分析模块中的各算法模块中预制的标准的数控代码的框架为数控系统所需的，所以自动生成的数控代码在格式上会和数控系统一致。
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公开(公告)号：CN203929610U
公开(公告)日：2014-11-05
申请号：CN201320824595.3
申请日：2013-12-12
Applicant: 北京理工大学
Abstract: 本实用新型提供了一种在透射和反射测量间切换的测光装置，包括光源、探测器、透射测量光路组件、反射测量光路组件和样品架组件：样品承载于样品架组件上，样品架组件可带动样品旋转；在装置采用透射测量方式时，透射测量光路组件放置于光源与探测器之间；在装置采用反射测量方式时，反射测量光路组件放置于光源与探测器之间最终完成两种方式的测量；本实用新型的测光装置可实现在透射测量状态和反射测量状态之间的快速切换，方便使用；光源、探测器及样品架组件，在两种测量模式下共用，仅替换尽可能少的光路元件，并尽量保持其它部件的方位不变，使产品具有简单可靠，成本低廉的特点。
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