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公开(公告)号：CN115508782B
公开(公告)日：2025-05-13
申请号：CN202211268585.6
申请日：2022-10-17
Applicant: 北京环境特性研究所
IPC: G01S7/02
Abstract: 本发明涉及一种变俯仰双站角的强散射结构设计方法，涉及电磁散射领域，包括以下步骤：设计一块由平板和弧形板组成的散射结构，尺寸随机，其中平板与弧形板的夹角设为β；将散射结构竖直放置，以使平板处于XOZ平面，对β进行不同赋值，然后对该散射结构进行电磁理论仿真计算；获取不同俯仰双站角的双站散射特性图像；定量统计不同图像中的强散射强度角度范围和双站俯仰角的数据，获得强散射强度角度范围和双站俯仰角的折线图，对折线图进行拟合获得强散射强度角度范围和双站俯仰角的方程关系，本发明具有通过设计一种新型的强散射结构，可实现不同俯仰双站角的强散射特性的优点。
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公开(公告)号：CN119556250A
公开(公告)日：2025-03-04
申请号：CN202411702898.7
申请日：2024-11-26
Applicant: 北京环境特性研究所
Abstract: 本发明提供了一种基于柱面共形超表面结构的回波增强器及其设计方法，该回波增强器包括：包括金属圆柱体和若干个超表面单元；其中，超表面单元在所述金属圆柱体侧面呈周期性排列，所述超表面单元用于调控所述金属圆柱体的电磁散射特性。本方案，在进行回波增强器结构设计时，结合几何分区法和相位梯度理论对金属圆柱体侧面的超表面单元进行柱面共形阵列设计，同时利用优化算法对超表面单元中金属贴片的尺寸参数进行优化，将优化后的不同尺寸金属贴片组成阵列排布在金属圆柱体侧面以满足电磁调控。如此，可有效在柱体曲面载体上实现后向回波增强，并给一定角域内曲面结构的回波增强提供了解决方法。
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公开(公告)号：CN115508782A
公开(公告)日：2022-12-23
申请号：CN202211268585.6
申请日：2022-10-17
Applicant: 北京环境特性研究所
IPC: G01S7/02
Abstract: 本发明涉及一种变俯仰双站角的强散射结构设计方法，涉及电磁散射领域，包括以下步骤：设计一块由平板和弧形板组成的散射结构，尺寸随机，其中平板与弧形板的夹角设为β；将散射结构竖直放置，以使平板处于XOZ平面，对β进行不同赋值，然后对该散射结构进行电磁理论仿真计算；获取不同俯仰双站角的双站散射特性图像；定量统计不同图像中的强散射强度角度范围和双站俯仰角的数据，获得强散射强度角度范围和双站俯仰角的折线图，对折线图进行拟合获得强散射强度角度范围和双站俯仰角的方程关系，本发明具有通过设计一种新型的强散射结构，可实现不同俯仰双站角的强散射特性的优点。
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公开(公告)号：CN114662323A
公开(公告)日：2022-06-24
申请号：CN202210317072.3
申请日：2022-03-29
Applicant: 北京环境特性研究所
IPC: G06F30/20 , G06F111/10 , G06F119/16
Abstract: 本发明提供了一种目标模拟方法、装置及存储介质，其中方法包括：首先获取待模拟目标对应第一频率的全空间第一RCS数据；然后根据第一RCS数据的起伏特性，确定待模拟目标的强散射区域，强散射区域为RCS值大于预设阈值的区域；再然后对强散射区域进行散射中心诊断，得到强散射区域的诊断结构和诊断结构对应的可见角域范围；最后对诊断结构进行结构调整，并根据可见角域范围和对应频率，对调整后的结构和调整前的诊断结构的散射特性进行等效性评估；若评估等效性较高，则将调整优化后的结构确定为待模拟目标在此可见角域范围内的模拟结构。本方案，能够对目标的局部散射特性进行精细模拟，且模拟的散射特性具有良好起伏特性与频率依赖性，整体逼真度高。
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公开(公告)号：CN113960560B
公开(公告)日：2025-03-21
申请号：CN202111483755.8
申请日：2021-12-07
Applicant: 北京环境特性研究所
Abstract: 本发明涉及一种点源角反射器阵列RCS模拟评估方法和装置，该方法的一个具体实施方式包括：对待评估的点源角反射器阵列进行电磁仿真计算，获取所述点源角反射器阵列的雷达散射截面RCS值；对获取的所述点源角反射器阵列的RCS值进行平滑处理，得到平滑后的RCS值；根据所述平滑后的RCS值对所述点源角反射器阵列的RCS模拟精度和RCS分布均匀性进行评估；其中，所述RCS模拟精度包括整体RCS精度和中心RCS精度，RCS分布均匀性包括RCS方位向分布均匀性和RCS俯仰向分布均匀性。该实施方式能够针对点源角反射器阵列的RCS模拟精度和RCS分布均匀性进行准确评估。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN112070151B
公开(公告)日：2023-12-29
申请号：CN202010926790.1
申请日：2020-09-07
Applicant: 北京环境特性研究所
IPC: G06V10/764 , G06V10/82 , G06V10/774
Abstract: 本发明涉及一种MSTAR数据图像的目标分类识别方法、计算机设备及计算机可读存储介质，该方法包括如下步骤：获取MSTAR数据集并进行方位角信息检测，评估MSTAR数据集方位角信息缺失情况；若方位角间隔角度不超过4°，则对MSTAR数据集进行均匀降采样，得到初始训练集；以平移截取的方式扩充初始训练集，利用扩充后得到的训练集训练CNN网络；利用训练完成后得到的CNN网络进行目标分类识别。本发明能够充分利用方位角信息不完备的数据集，并压缩数据集容量，减少数据冗余，通过小样本数据集实现目标较为准确的分类识别，在一定程度上解决了
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公开(公告)号：CN119691936A
公开(公告)日：2025-03-25
申请号：CN202411883510.8
申请日：2024-12-19
Applicant: 北京环境特性研究所
Abstract: 本发明涉及一种改变传统角反射器频率依赖性的设计方法，涉及角反射器领域，包括以下步骤：将原三面相互垂直的角反射器重新设计成非相互垂直的结构，进行仿真计算获取角反射器不同偏转角度、不同频点下的RCS并计算RCS均值；分析偏转角度与不同频率关系下的RCS均值变化，采用三阶多项式拟合出角反射器RCS均值变化随偏转角度与频率的变化关系，以根据不同频率获得不同角反射器的结构数据，本发明具有通过控制角反射器偏转角度，可以改变传统角反射器的频率依赖性，为更加真实精确模拟真实目标提供了一种新型模拟单元，并通过分析其不同状态RCS特性，为模拟单元加工精度对模拟效果的边界探索提供技术支撑的优点。
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公开(公告)号：CN115774245A
公开(公告)日：2023-03-10
申请号：CN202211512834.1
申请日：2022-11-28
Applicant: 北京环境特性研究所
IPC: G01S7/40
Abstract: 本发明涉及一种扩展俯仰双站角范围的顶帽结构，包括圆盘和同轴设置且一体连接的多个圆台，多个圆台与圆盘同轴且位于最下侧的圆台的下底面与圆盘连接，位于最下侧的圆台的母线与圆盘的夹角为90°～92°之间，且由下至上每个圆台的母线与圆盘的夹角均依次增加，相邻两个圆台的母线与圆盘的夹角的增加不超度1°，每个圆台的下底面半径大于上底面的半径，相邻的两个圆台中，位于下侧的圆台的上底面半径等于位于上侧的圆台的下底面半径。采用将多个不同倾角、尺寸的圆台同轴堆叠并与不同半径的圆盘一体连接，能够在更大范围的俯仰双站角具有较强的电磁散射特性，可以实现更大俯仰双站角范围内的强散射特性控制，为后续双站目标模拟研究提供技术支撑。
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公开(公告)号：CN113960560A
公开(公告)日：2022-01-21
申请号：CN202111483755.8
申请日：2021-12-07
Applicant: 北京环境特性研究所
Abstract: 本发明涉及一种点源角反射器阵列RCS模拟评估方法和装置，该方法的一个具体实施方式包括：对待评估的点源角反射器阵列进行电磁仿真计算，获取所述点源角反射器阵列的雷达散射截面RCS值；对获取的所述点源角反射器阵列的RCS值进行平滑处理，得到平滑后的RCS值；根据所述平滑后的RCS值对所述点源角反射器阵列的RCS模拟精度和RCS分布均匀性进行评估；其中，所述RCS模拟精度包括整体RCS精度和中心RCS精度，RCS分布均匀性包括RCS方位向分布均匀性和RCS俯仰向分布均匀性。该实施方式能够针对点源角反射器阵列的RCS模拟精度和RCS分布均匀性进行准确评估。
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公开(公告)号：CN114662323B
公开(公告)日：2025-03-11
申请号：CN202210317072.3
申请日：2022-03-29
Applicant: 北京环境特性研究所
IPC: G06F30/20 , G06F111/10 , G06F119/16
Abstract: 本发明提供了一种目标模拟方法、装置及存储介质，其中方法包括：首先获取待模拟目标对应第一频率的全空间第一RCS数据；然后根据第一RCS数据的起伏特性，确定待模拟目标的强散射区域，强散射区域为RCS值大于预设阈值的区域；再然后对强散射区域进行散射中心诊断，得到强散射区域的诊断结构和诊断结构对应的可见角域范围；最后对诊断结构进行结构调整，并根据可见角域范围和对应频率，对调整后的结构和调整前的诊断结构的散射特性进行等效性评估；若评估等效性较高，则将调整优化后的结构确定为待模拟目标在此可见角域范围内的模拟结构。本方案，能够对目标的局部散射特性进行精细模拟，且模拟的散射特性具有良好起伏特性与频率依赖性，整体逼真度高。
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