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公开(公告)号：CN104749130B
公开(公告)日：2017-11-03
申请号：CN201410725020.5
申请日：2014-12-03
Applicant: 北京环境特性研究所
IPC: G01N21/3586 , G01J3/28
Abstract: 本发明公开了一种太赫兹时域光谱系统的快速扫描方法，包括：基于控制装置的读取命令，在读取时间段中，锁相放大器同时从扫描振镜读取扫描振镜的位置驱动电压和从光电平横探测器读取差分电流信号；锁相放大器将读取位置驱动电压和差分电流信号作为一个数据元发送给控制装置；控制装置的采集单元将数据元依次缓存入由预创建的数据队列中；控制装置的处理单元从所述数据队列中提取缓存的数据元，将数据元中的差分探测器的差分电流作为太赫兹时域波形的纵坐标，将扫描振镜的位置驱动电压转化成太赫兹脉冲的持续时间作为太赫兹时域波形的横坐标进行实时显示，并在处理之后从数据队列中删除该提取的数据元。
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公开(公告)号：CN104316488B
公开(公告)日：2017-06-16
申请号：CN201410522061.4
申请日：2014-09-30
Applicant: 北京环境特性研究所
IPC: G01N21/3581 , G01N21/3586
Abstract: 本发明公开了一种违禁物品检测方法和装置，包括：采集设定含量的待检物品的吸收谱数据；对于每种干扰样本，确定出预先设定的各种含量占比的该干扰样本的吸收谱数据；对于每种干扰样本，针对预先设定的每种含量占比，根据该含量占比的该干扰样本的吸收谱数据对采集的待检物品的吸收谱数据进行解谱，得到待检物品在该含量占比的该干扰样本下的去干扰吸收谱数据；对于每种违禁物品，针对预先设定的每种含量占比，将待检物品在该含量占比的该干扰样本下的去干扰吸收谱数据与设定含量的该种违禁物品的标准品的吸收谱数据进行比对，根据比对结果判断所述待检物品是否为该种违禁物品。应用本发明，可以检测出包含有干扰物的待检物品是否为违禁物品。
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公开(公告)号：CN106841094A
公开(公告)日：2017-06-13
申请号：CN201710002309.8
申请日：2017-01-03
Applicant: 北京环境特性研究所
IPC: G01N21/3586 , G01J3/433
CPC classification number: G01N21/3586 , G01J3/433
Abstract: 本发明公开了一种提高太赫兹时域光谱系统频谱分辨率的方法，包括：将太赫兹时域光谱系统中的电光晶体设计为楔形，电光晶体的前表面与探测激光的光轴垂直、后表面与探测激光的光轴形成夹角；使用吸波体遮挡住在电光晶体内震荡后出射的探测激光。本发明通过设计电光晶体的切割角度能够改变激光在晶体后表面的传播方向，避免了在晶体内多次震荡的探测激光与太赫兹波发生多次重复相互作用后进入探测器，能够从系统回波产生的根源处着手消除回波，增加有效的太赫兹波测量数据，提高太赫兹时域光谱系统的频谱分辨率。
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公开(公告)号：CN106092966A
公开(公告)日：2016-11-09
申请号：CN201610366147.1
申请日：2016-05-27
Applicant: 北京环境特性研究所
IPC: G01N21/41
CPC classification number: G01N21/41
Abstract: 公开了一种太赫兹频段RCS测量用支架材料的选取方法，包括：选取M种泡沫材料作为测试样品；对于选取的每种泡沫材料，通过太赫兹时域光谱测量系统测量未放置测试样品时的时域光谱Er,i(t)、以及放置测试样品时的时域光谱Es,i(t)；对Er,i(t)、Es,i(t)进行傅里叶变换，以获取频域光谱Er,i(w)、Es,i(w)；然后，根据Er,i(w)、Es,i(w)、以及泡沫材料的厚度di，计算该泡沫材料的折射率谱ni(w)；对于选取的每种泡沫材料，计算其折射率谱的折射率均值以及的值，并且，将取最小值的泡沫材料作为太赫兹频段RCS测量用支架材料。本发明通过太赫兹时域光谱技术，便于快速、无损的分析材料的电磁散射特性，进而在样品中迅速找到适用于太赫兹频段RCS测量的支架材料。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN106092966B
公开(公告)日：2019-03-26
申请号：CN201610366147.1
申请日：2016-05-27
Applicant: 北京环境特性研究所
IPC: G01N21/41
Abstract: 公开了一种太赫兹频段RCS测量用支架材料的选取方法，包括：选取M种泡沫材料作为测试样品；对于选取的每种泡沫材料，通过太赫兹时域光谱测量系统测量未放置测试样品时的时域光谱Er,i(t)、以及放置测试样品时的时域光谱Es,i(t)；对Er,i(t)、Es,i(t)进行傅里叶变换，以获取频域光谱Er,i(w)、Es,i(w)；然后，根据Er,i(w)、Es,i(w)、以及泡沫材料的厚度di，计算该泡沫材料的折射率谱ni(w)；对于选取的每种泡沫材料，计算其折射率谱的折射率均值以及的值，并且，将取最小值的泡沫材料作为太赫兹频段RCS测量用支架材料。本发明通过太赫兹时域光谱技术，便于快速、无损的分析材料的电磁散射特性，进而在样品中迅速找到适用于太赫兹频段RCS测量的支架材料。
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公开(公告)号：CN104515602A
公开(公告)日：2015-04-15
申请号：CN201410758974.6
申请日：2014-12-10
Applicant: 北京环境特性研究所
IPC: G01J11/00
Abstract: 本发明提供一种基于电光取样原理的太赫兹脉冲探测器,所述基于电光取样原理的太赫兹脉冲探测器包括：电光晶体、λ/4波片、偏振分束镜和差分探测器，所述差分探测器包括雪崩二极管和配阻，所述雪崩二极管与所述配阻连接。本发明的基于电光取样原理的太赫兹脉冲探测器，通过在差分探测器中设置雪崩二极管和配阻，并将所述雪崩二极管与所述配阻连接，大大提升太赫兹信号的信噪比和动态范围。
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公开(公告)号：CN104316487A
公开(公告)日：2015-01-28
申请号：CN201410482295.0
申请日：2014-09-19
Applicant: 北京环境特性研究所
IPC: G01N21/3581 , G01N21/3586
Abstract: 本发明公开了一种违禁物品检测方法和装置，该方法包括：采集待检物品的吸收谱数据；确定出采集的吸收谱数据中的各波峰；针对每个波峰，根据该波峰对应的太赫兹吸收值、该波峰的相邻点的太赫兹吸收值，计算出该波峰的峰值明显度；将计算出的波峰明显度与预设的干扰阈值进行比较，根据比较结果判断该波峰是否为干扰点；利用滑动平均方法对判断出的待检物品的吸收谱数据中的干扰点进行数据修复，得到待检物品的修复后吸收谱数据；将待检物品的修复后吸收谱数据与违禁物品指纹谱库中的各种违禁物品的标准品的吸收谱数据进行比对，根据比对结果判断待检物品是否为其中一种违禁物品。应用本发明，可以提高检测结果的准确度。
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公开(公告)号：CN104515602B
公开(公告)日：2018-04-17
申请号：CN201410758974.6
申请日：2014-12-10
Applicant: 北京环境特性研究所
IPC: G01J11/00
Abstract: 本发明提供一种基于电光取样原理的太赫兹脉冲探测器,所述基于电光取样原理的太赫兹脉冲探测器包括：电光晶体、λ/4波片、偏振分束镜和差分探测器，所述差分探测器包括雪崩二极管和配阻，所述雪崩二极管与所述配阻连接。本发明的基于电光取样原理的太赫兹脉冲探测器，通过在差分探测器中设置雪崩二极管和配阻，并将所述雪崩二极管与所述配阻连接，大大提升太赫兹信号的信噪比和动态范围。
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