探测土壤生物孔隙结构和种类的方法、探测装置

    公开(公告)号:CN107144510B

    公开(公告)日:2023-06-06

    申请号:CN201710428934.9

    申请日:2017-06-08

    Abstract: 本发明涉及土壤孔隙探测技术领域,公开了一种探测土壤生物孔隙结构和种类的方法,以及该方法使用的探测装置。方法包括:挖掘带竖直剖面的坑;在竖直剖面上确定待探测区域;筛选出区域内待探测的生物孔隙;通过窥视单元获取各生物孔隙的探测数据;记录所述探测数据;依据探测数据对生物孔隙进行分类;在垂直竖直剖面的方向且与竖直剖面相隔设定距离的位置处重新制取竖直剖面;重复上述探测步骤。本发明提供的方法和装置,操作过程简单、成本低,且不会对土壤的生态环境造成影响,适用于多种土地状况的探测。

    探测土壤生物孔隙结构和种类的方法、探测装置

    公开(公告)号:CN107144510A

    公开(公告)日:2017-09-08

    申请号:CN201710428934.9

    申请日:2017-06-08

    CPC classification number: G01N15/088

    Abstract: 本发明涉及土壤孔隙探测技术领域,公开了一种探测土壤生物孔隙结构和种类的方法,以及该方法使用的探测装置。方法包括:挖掘带竖直剖面的坑;在竖直剖面上确定待探测区域;筛选出区域内待探测的生物孔隙;通过窥视单元获取各生物孔隙的探测数据;记录所述探测数据;依据探测数据对生物孔隙进行分类;在垂直竖直剖面的方向且与竖直剖面相隔设定距离的位置处重新制取竖直剖面;重复上述探测步骤。本发明提供的方法和装置,操作过程简单、成本低,且不会对土壤的生态环境造成影响,适用于多种土地状况的探测。

    一种用于模拟森林坡面枯落物层水文动态的测量装置

    公开(公告)号:CN107132343A

    公开(公告)日:2017-09-05

    申请号:CN201710358859.3

    申请日:2017-05-19

    CPC classification number: G01N33/48

    Abstract: 本发明提供了一种用于模拟森林坡面枯落物层水文动态的测量装置,包括枯落物承接框架、第一测量装置与第二测量装置,枯落物承接框架第一端设有可伸缩的第一支撑件,第二端设有可伸缩的第二支撑件,第一端为开口结构,并与第一测量装置连接;枯落物承接框架上铺设承接筛网,承接筛网上方设有降水装置,承接筛网下方设有集水袋,集水袋底部设有与第二测量装置连接的出流口。本发明通过可伸缩的第一支撑件与第二支撑件调节枯落物承接框架的倾斜度,模拟不同坡度;通过第一测量装置与第二测量装置测定垂直下渗量和沿坡面产生的侧向迁移量,从而间接测定在不同降雨条件与不同坡度条件下枯落物层的截留量,对坡面枯落物层对降雨的分配进行动态监测。

    土壤生物孔隙探测装置
    4.
    实用新型

    公开(公告)号:CN206832639U

    公开(公告)日:2018-01-02

    申请号:CN201720665801.9

    申请日:2017-06-08

    Abstract: 本实用新型涉及土壤孔隙探测技术领域,公开了一种土壤生物孔隙探测装置,包括:定位单元、筛选单元、窥视单元;所述定位单元用于确定待探测区域;所述筛选单元用于筛选出所述区域内待探测的生物孔隙;所述窥视单元用于获取所述生物孔隙内部的图像和/或视频信息。本实用新型提供的探测装置,操作过程简单、成本低,且不会对土壤的生态环境造成影响,适用于多种土地状况的探测。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利

    一种用于模拟森林坡面枯落物层水文动态的测量装置

    公开(公告)号:CN206832811U

    公开(公告)日:2018-01-02

    申请号:CN201720563335.3

    申请日:2017-05-19

    Abstract: 本实用新型提供了一种用于模拟森林坡面枯落物层水文动态的测量装置,包括枯落物承接框架、第一测量装置与第二测量装置,枯落物承接框架第一端设有可伸缩的第一支撑件,第二端设有可伸缩的第二支撑件,第一端为开口结构,并与第一测量装置连接;枯落物承接框架上铺设承接筛网,承接筛网上方设有降水装置,承接筛网下方设有集水袋,集水袋底部设有与第二测量装置连接的出流口。本实用新型通过可伸缩的第一支撑件与第二支撑件调节枯落物承接框架的倾斜度,模拟不同坡度;通过第一测量装置与第二测量装置测定垂直下渗量和沿坡面产生的侧向迁移量,从而测定在不同降雨与不同坡度条件下枯落物层的截留量,对坡面枯落物层对降雨的分配进行动态监测。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利

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