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公开(公告)号：CN111156917B
公开(公告)日：2021-10-22
申请号：CN202010054037.8
申请日：2020-01-17
Applicant: 北京林业大学
IPC: G01B11/16
Abstract: 本发明公开了一种基于灰度标志点的变形测量方法，其特征在于，所述方法包括以下步骤：步骤1，在目标物的表面设置多个标志点；步骤2，采集目标物变形前后的图像；步骤3，对变形前后的图像进行分析，得到目标物的变形情况。本发明所提供的方法利用基于随机邻域拓扑排列的特征向量对变形前图像和变形后图像中的同一标志点进行匹配，比较得出标志点在变形后图像中的位置，再进行插值以获取目标物的全场位移，无需在目标物表面喷涂散斑，对设备的要求低，不受外部环境影响，测量精度高。
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公开(公告)号：CN111256607A
公开(公告)日：2020-06-09
申请号：CN202010103370.3
申请日：2020-02-19
Applicant: 北京林业大学
Abstract: 本发明公开了一种基于三通道标志点的变形测量方法，该包括以下步骤：步骤1，在待测物体表面设置三通道标志点，并采集待测物体表面变形前后的图像；步骤2，对图像中的三通道标志点进行位置检测和中心定位；步骤3，对变形前后图像中的同一标志点进行匹配，获得物体的全场位移。本发明提供的基于三通道标志点的变形测量方法，所需标志点数量较少，对待测物体不会造成不可逆污损，适合于透明材质、馆藏文物等的测量；利用各个标志点独特的周围标志点的环绕信息和颜色信息构成特征向量，匹配正确率、测量精度高，计算速度快。
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公开(公告)号：CN111156917A
公开(公告)日：2020-05-15
申请号：CN202010054037.8
申请日：2020-01-17
Applicant: 北京林业大学
IPC: G01B11/16
Abstract: 本发明公开了一种基于灰度标志点的变形测量方法，其特征在于，所述方法包括以下步骤：步骤1，在目标物的表面设置多个标志点；步骤2，采集目标物变形前后的图像；步骤3，对变形前后的图像进行分析，得到目标物的变形情况。本发明所提供的方法利用基于随机邻域拓扑排列的特征向量对变形前图像和变形后图像中的同一标志点进行匹配，比较得出标志点在变形后图像中的位置，再进行插值以获取目标物的全场位移，无需在目标物表面喷涂散斑，对设备的要求低，不受外部环境影响，测量精度高。
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公开(公告)号：CN111256607B
公开(公告)日：2021-09-21
申请号：CN202010103370.3
申请日：2020-02-19
Applicant: 北京林业大学
Abstract: 本发明公开了一种基于三通道标志点的变形测量方法，该包括以下步骤：步骤1，在待测物体表面设置三通道标志点，并采集待测物体表面变形前后的图像；步骤2，对图像中的三通道标志点进行位置检测和中心定位；步骤3，对变形前后图像中的同一标志点进行匹配，获得物体的全场位移。本发明提供的基于三通道标志点的变形测量方法，所需标志点数量较少，对待测物体不会造成不可逆污损，适合于透明材质、馆藏文物等的测量；利用各个标志点独特的周围标志点的环绕信息和颜色信息构成特征向量，匹配正确率、测量精度高，计算速度快。
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