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公开(公告)号:CN116155458A
公开(公告)日:2023-05-23
申请号:CN202211693676.4
申请日:2022-12-28
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: H04L1/20
Abstract: 本发明属于图形产生技术领域,具体公开了一种用于误码测试设备的图形产生方法及误码测试设备。该图形产生方法包括:步骤S1:在FPGA中设置所需速率的测试图形数据以输出测试信号;步骤S2:使第一端口与第一输入端口导通,第一输入端口与第五动作端导通;步骤S3:使第二端口与第二输入端口导通,第二输入端口与第五动作端导通;步骤S4:使第一动作端与第三输入端口导通;第三输入端口与第五动作端导通;步骤S5:使第二动作端和第三动作端与60G串行器的输入端导通,60G串行器的输出端与第四输入端口导通;第四输入端口与第五动作端导通。本发明可以实现50Mb/s~60Gb/s图形的产生来拓展误码测试设备的应用范围。
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公开(公告)号:CN116132002A
公开(公告)日:2023-05-16
申请号:CN202211693660.3
申请日:2022-12-28
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
Abstract: 本发明属于信号上升/下降时间校正技术领域,具体公开了一种误码测试设备及用于其的信号上升/下降时间校正方法。该信号上升/下降时间校正方法包括:步骤S1:根据实际所需输出信号在时钟源上设置输入时钟;步骤S2:使输入时钟以多路形式依次输入至图形产生器、斜率滤波器组以及示波器,示波器示出并记录得到多路输出信号的上升/下降时间的数据;步骤S3:采用枚举法逐个对比多路数据,每路确定一个结果使得各路之间的偏差最小,记录偏差最小时对应的斜率滤波器组的参数,并将参数设置在对应的斜率滤波器组中,以实现对输出信号上升/下降时间的校正。本发明可以解决误码测试设备的多个发射通道间信号上升/下降时间难以到达一致的问题。
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