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公开(公告)号：CN109342833B
公开(公告)日：2021-03-02
申请号：CN201811125472.4
申请日：2018-09-26
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: G01R29/10
Abstract: 本发明公开一种校准装置，所述装置包括：可发射微波的发射装置，以及与所述发射装置配合的接收装置，接收装置包括探头组件，用于检测所述接收装置附近的场强；第一天线组件，用于接收所述微波；以及第一调节组件，第一调节组件与所述天线组件结合，当所述探头组件工作时，所述第一调节组件使所述天线组件向远离所述探头组件的方向移动至预设位置。本发明通过设置探头组件和第一天线组件，既可以用来对微波天线的天线系数、方向图、轴比进行校准，还可以对场强探头的频率响应、三轴等参数进行校准。通过设置第一调节组件，从而使得探头组件工作时，可以将天线组件移开，从而避免第一天线组件对探头组件造成干扰，能够一体化校准。
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公开(公告)号：CN108828485A
公开(公告)日：2018-11-16
申请号：CN201810224296.3
申请日：2018-03-19
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: G01R35/00
Abstract: 本申请公开了一种场强探头支架装置，包括垂直关节、俯仰关节、旋转台和探头支杆；所述垂直关节包括第一垂直关节和第二垂直关节，所述第二垂直关节第一端可在所述第一垂直关节中伸缩；所述俯仰关节第二端与所述第二垂直关节第二端活动连接；所述旋转台用于控制所述探头支杆绕自身轴心旋转一周。还公开了一种场强探头全向性校准系统，包括TEM室、标准增益天线、天线支架和上述场强探头支架装置，所述天线支架用于调整所述标准增益天线垂直、水平和俯仰位置。本申请还公开了一种场强探头全向性校准方法。本申请采取手动调节和电控相结合的方式，能够准确定位全向性测试中的场强探头位置及自旋角度，装拆方便，同时有较好的经济性和便捷性。
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公开(公告)号：CN110988504A
公开(公告)日：2020-04-10
申请号：CN201911374321.7
申请日：2019-12-27
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
Abstract: 本发明公开一种里德堡原子微波电场强度计激光强度稳定控制装置及方法，利用电光液晶延迟器来实现里德堡原子微波电场强度计耦合光和探测光光强稳定控制，进而提高里德堡原子微波电场强度计的测量精度，该方法不仅有利于提高里德堡原子微波电场强度计激光强度稳定性，而且有利于激光系统的集成化，且原理清晰、结构简单、易于实现与应用。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN109342833A
公开(公告)日：2019-02-15
申请号：CN201811125472.4
申请日：2018-09-26
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: G01R29/10
CPC classification number: G01R29/10
Abstract: 本发明公开一种校准装置，所述装置包括：可发射微波的发射装置，以及与所述发射装置配合的接收装置，接收装置包括探头组件，用于检测所述接收装置附近的场强；第一天线组件，用于接收所述微波；以及第一调节组件，第一调节组件与所述天线组件结合，当所述探头组件工作时，所述第一调节组件使所述天线组件向远离所述探头组件的方向移动至预设位置。本发明通过设置探头组件和第一天线组件，既可以用来对微波天线的天线系数、方向图、轴比进行校准，还可以对场强探头的频率响应、三轴等参数进行校准。通过设置第一调节组件，从而使得探头组件工作时，可以将天线组件移开，从而避免第一天线组件对探头组件造成干扰，能够一体化校准。
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公开(公告)号：CN104569888B
公开(公告)日：2017-06-06
申请号：CN201410816020.6
申请日：2014-12-24
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: G01R35/00
Abstract: 本发明公开一种利用微带线法校准近场探头修正因子的系统及方法，该系统包括：置于微带线基板的微带线、可调信号源、频谱分析仪、近场探头和负载终端以及与频谱分析仪连接的数据处理单元；近场探头置于微带线上方，用于探测可调信号源经微带线向负载终端发送的信号；频谱分析仪用于连接微带线并测量可调信号源经微带线发送至频谱分析仪的信号的电压值；频谱分析仪还用于连接近场探头并测量近场探头探测得到的信号的电压值。本发明所述技术方案，采用与实际测试相近微带线产生的近场，校准出各校准频率点下近场探头的修正因子，为利用校准的修正因子去修正测试中的微带线辐射场做好准备，提高测量数据的准确性。
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公开(公告)号：CN110988504B
公开(公告)日：2024-12-24
申请号：CN201911374321.7
申请日：2019-12-27
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
Abstract: 本发明公开一种里德堡原子微波电场强度计激光强度稳定控制装置及方法，利用电光液晶延迟器来实现里德堡原子微波电场强度计耦合光和探测光光强稳定控制，进而提高里德堡原子微波电场强度计的测量精度，该方法不仅有利于提高里德堡原子微波电场强度计激光强度稳定性，而且有利于激光系统的集成化，且原理清晰、结构简单、易于实现与应用。
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公开(公告)号：CN104569888A
公开(公告)日：2015-04-29
申请号：CN201410816020.6
申请日：2014-12-24
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: G01R35/00
Abstract: 本发明公开一种利用微带线法校准近场探头修正因子的系统及方法，该系统包括：置于微带线基板的微带线、可调信号源、频谱分析仪、近场探头和负载终端以及与频谱分析仪连接的数据处理单元；近场探头置于微带线上方，用于探测可调信号源经微带线向负载终端发送的信号；频谱分析仪用于连接微带线并测量可调信号源经微带线发送至频谱分析仪的信号的电压值；频谱分析仪还用于连接近场探头并测量近场探头探测得到的信号的电压值。本发明所述技术方案，采用与实际测试相近微带线产生的近场，校准出各校准频率点下近场探头的修正因子，为利用校准的修正因子去修正测试中的微带线辐射场做好准备，提高测量数据的准确性。
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公开(公告)号：CN212301699U
公开(公告)日：2021-01-05
申请号：CN201922424056.0
申请日：2019-12-27
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
Abstract: 本实用新型公开一种里德堡原子微波电场强度计激光强度稳定控制装置，利用电光液晶延迟器来实现里德堡原子微波电场强度计耦合光和探测光光强稳定控制，进而提高里德堡原子微波电场强度计的测量精度，该装置不仅有利于提高里德堡原子微波电场强度计激光强度稳定性，而且有利于激光系统的集成化，且原理清晰、结构简单、易于实现与应用。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利
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