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公开(公告)号：CN109991253A
公开(公告)日：2019-07-09
申请号：CN201910269732.3
申请日：2019-04-04
Applicant: 北京师范大学
IPC: G01N23/20008 , G01N23/223
Abstract: 本发明涉及一种毛细管聚焦的微束X射线衍射仪，包括：X射线源系统，X射线滤波片，毛细管会聚X光透镜，接收狭缝，三维样品台，测角仪，X射线探测器，电子学系统，控制系统和计算机；其中，样品置于样品台上；所述X射线源系统，X射线滤波片和毛细管会聚X光透镜位于同一直线上并安装在所述测角仪一侧；所述接收狭缝和X射线探测器位于同一直线上并安装在所述测角仪另一侧；所述X射线探测器依次与所述电子学系统、计算机电连接；所述控制系统分别与所述三维样品台，测角仪和计算机电连接。具备微区X射线衍射分析和微区能量色散X射线荧光分析两种分析模式，可以测量小样品或样品微区的物相结构，能通过二维连续扫描探测物相或元素的分布。
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公开(公告)号：CN103698350A
公开(公告)日：2014-04-02
申请号：CN201310726315.X
申请日：2013-12-26
Applicant: 北京师范大学
IPC: G01N23/223
Abstract: 本发明涉及一种X射线双谱仪，所述双谱仪包括：4千瓦功率X射线管，三维样品移动台，CCD相机，毛细管X光半透镜，半导体X射线探测器和电子学系统I，平面晶体，NaI X射线探测器和电子学系统II，准直狭缝I和准直狭缝II；X射线能谱和波谱共有一个4千瓦大功率X射线管，毛细管X光半透镜固定于半导体X射线探测器和电子学系统I前，毛细管X光半透镜位于样品斜上方并成67.5度的角度对准样品用于收集样品的微区元素所激发出来的元素特征能量的X射线，计算机控制的三维样品移动台移动样品做线扫描或面扫描分析或样品中感兴趣的微区。
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公开(公告)号：CN101661807B
公开(公告)日：2012-01-11
申请号：CN200910093450.9
申请日：2009-09-21
Applicant: 北京师范大学 , 北京师大科技园科技发展有限责任公司
Abstract: 本发明公开了一种组合式X射线微会聚光学器件，用于将高能发散X光束转变为发散度为0.5-2度的X光束，并对低能X射线过滤。所述光学器件为轴对称结构，并且沿轴方向的外形母线为二次曲线段和直线段的组合；所述光学器件包括多个实心构件，以及通过该多个实心构件微会聚发散的X射线；所述实心构件由玻璃材料制成，侧壁镀有金属膜；该玻璃材料与金属膜的临界面构成反射面，用于X射线在经过反射面时发生全反射；每个实心构件的两端中的一端用于接收X射线，另一端用于输出X射线。
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公开(公告)号：CN101667468A
公开(公告)日：2010-03-10
申请号：CN200910093451.3
申请日：2009-09-21
Applicant: 北京师范大学 , 北京师大科技园科技发展有限责任公司
Abstract: 本发明公开了一种组合式X射线会聚光学器件，用于实现会聚高能X射线，并对低能X射线过滤。所述光学器件为轴对称结构，并且沿轴方向的外形母线为两个二次曲线段的组合；所述光学器件包括多个实心构件，以及通过该多个实心构件会聚发散X射线；所述实心构件由玻璃材料制成，侧壁镀有金属膜；该玻璃材料与金属膜的临界面构成反射面，用于X射线在经过反射面时发生全反射；每个实心构件的两端中的一端用于接收X射线，另一端用于输出X射线。
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公开(公告)号：CN114609012B
公开(公告)日：2024-08-16
申请号：CN202210248464.9
申请日：2022-03-14
Applicant: 北京师范大学
IPC: G01N15/08 , G01N23/083
Abstract: 本发明公开了一种X射线透射法测量陶瓷类样品真气孔率的方法。该方法首先使用X射线透射法测量陶瓷样品的透射光谱，并通过陶瓷样品透射光谱与已知厚度纯Al片透射光谱的比值和陶瓷样品厚度值，间接求出不同能量条件下陶瓷样品平均线衰减系数的测量值；其次依据胎体和瓷釉中所含元素的组成，分别计算其在不同能量条件下对应的理论质量吸收系数和理论密度；然后依据陶瓷样品胎体和瓷釉的厚度、理论质量吸收系数和理论密度，计算陶瓷样品的平均理论线衰减系数；最后通过陶瓷样品线衰减系数测量值和平均理论值在一定能量区间范围的比值得出陶瓷样品真气孔率的分析结果；所有计算过程通过开发的计算软件实现。本发明在测量陶瓷类样品真气孔率时，具有操作简单、测量速度快等显著的优势，且克服了传统方法进行陶瓷样品真气孔率的测量时操作过程复杂，无法直接和重复测量陶瓷真气孔率的问题。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN115774032A
公开(公告)日：2023-03-10
申请号：CN202211417592.8
申请日：2022-11-11
Applicant: 北京师范大学
IPC: G01N23/20008
Abstract: 本发明公开了一种X射线双晶衍射仪。该仪器主要由铜靶微焦斑X射线源系统，毛细管X光平行束透镜，Ge(1 1 1)平面晶体，SDD X射线探测器，测角仪，样品台，控制系统和计算机构成。毛细管X光平行束透镜置于X射线源系统和平面晶体之间，通过调节位置使透镜前焦点置于X射线管的靶面上，将发散的X射线束调控为平行射线束；通过平面晶体衍射从铜靶微焦斑X射线管产生的连续谱中选取铜的Kα线；待测样品置于测角仪的中心，跟随探测器做θ‑2θ运动；探测器将探测结果进行电子学处理后实时传递给计算机；计算机软件程序主要由LabVIEW编写实现，主要功能包括：运动控制、高压控制、信号的采集处理及显示。本发明避免了因使用吸收片而导致X射线的强度大幅度降低的问题，且整体结构较为简单，集成化较好，灵活度较高。
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公开(公告)号：CN112033988B
公开(公告)日：2022-04-12
申请号：CN202010963743.4
申请日：2020-09-15
Applicant: 北京师范大学
IPC: G01N23/207 , G01N23/20091
Abstract: 本发明涉及一种自适应束斑X射线衍射仪，包括：X射线源系统，X射线滤波片，毛细管微会聚X光透镜，索拉狭缝，光管运动系统，高精度XYZθ1‑θ2五维运动系统，X射线探测器，闭环水冷系统或冷却风扇，CCD相机，电子学系统，控制系统和计算机；其中，X射线源系统、X射线滤波片和毛细管微会聚X光透镜成直线置于光管运动系统上；CCD相机的轴线通过样品中心；X射线探测器和索拉狭缝成直线安装于高精度XYZθ1‑θ2五维运动系统的θ2转角上；X射线探测器、CCD相机、电子学系统与计算机电连接；控制系统与光管运动系统、高精度XYZθ1‑θ2五维运动系统电连接；可根据样品待测点直径自适应的调节X射线束斑直径；具备X射线衍射和X射线荧光两种模式，可探测物相或元素的二维分布。
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公开(公告)号：CN112033988A
公开(公告)日：2020-12-04
申请号：CN202010963743.4
申请日：2020-09-15
Applicant: 北京师范大学
IPC: G01N23/207 , G01N23/20091
Abstract: 本发明涉及一种自适应束斑X射线衍射仪，包括：X射线源系统，X射线滤波片，毛细管微会聚X光透镜，索拉狭缝，光管运动系统，高精度XYZθ1-θ2五维运动系统，X射线探测器，闭环水冷系统或冷却风扇，CCD相机，电子学系统，控制系统和计算机；其中，X射线源系统、X射线滤波片和毛细管微会聚X光透镜成直线置于光管运动系统上；CCD相机的轴线通过样品中心；X射线探测器和索拉狭缝成直线安装于高精度XYZθ1-θ2五维运动系统的θ2转角上；X射线探测器、CCD相机、电子学系统与计算机电连接；控制系统与光管运动系统、高精度XYZθ1-θ2五维运动系统电连接；可根据样品待测点直径自适应的调节X射线束斑直径；具备X射线衍射和X射线荧光两种模式，可探测物相或元素的二维分布。
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公开(公告)号：CN104316553B
公开(公告)日：2017-10-17
申请号：CN201410649766.2
申请日：2014-11-17
IPC: G01N23/223
Abstract: 本发明涉及一种微束X射线荧光谱仪，采用高精度分辨率小于5微米的激光位移传感器探测样品与激光位移传感器的之间的距离，将距离H的信号通过数模转换卡变成数字信号传递给计算机，计算机将信号传递给步进电机控制器，随后步进电机控制器将信号传递给步进电机驱动器，再由步进电机驱动器驱动由4个步进电机电机驱动四维样品台向XYZθ四个方向运动，保持样品被测试点处于毛细管X光透镜的后焦距的位置。
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公开(公告)号：CN106248706A
公开(公告)日：2016-12-21
申请号：CN201610548611.9
申请日：2016-07-13
Applicant: 北京师范大学
IPC: G01N23/223
CPC classification number: G01N23/223 , G01N2223/202
Abstract: 本发明提出一种微型毛细管X光透镜聚焦同位素放射源的X射线荧光谱仪。用毛细管X光透镜会聚同位素放射源衰变时的放出X射线和γ射线，要求放射源做成点状，入射样品的角度一般为45°，并且是一种微束X射线，能够测量几百微米大小的样品，将能量色散X射线荧光技术和毛细管X光透镜技术进行结合，提出一种袖珍式的鉴别试样中元素种类及其含量的低成本、高分辨率的微型X射线荧光谱仪。
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