带有栅压调制功能的超薄封装微流体系统及其制备方法

    公开(公告)号:CN102631957A

    公开(公告)日:2012-08-15

    申请号:CN201210109492.9

    申请日:2012-04-13

    Applicant: 北京大学

    Abstract: 本发明公开了一种带有栅压调制功能的超薄封装微流体系统及其制备方法与应用。该系统,由上至下依次为保护层、顶栅压电极层、膜封装层、微米通道层、测试电极层、绝缘层、底栅压电极层、基底和固定插管基座,且所述膜封装层、微米通道层和绝缘层形成微米通道腔,所述测试电极层位于所述微米通道腔的内底部,所述固定插管基座与注入管配伍,且所述注入管与所述微米通道腔相通。该系统以简易超薄封装技术为基础,带有高频测试和栅压调制功能。该系统功能新型、结构紧凑且测试精度高,在微流体物理、精细化学、生物等研究领域都有很好的应用前景。

    一种金属薄膜微米尺度热电偶器件

    公开(公告)号:CN102419217B

    公开(公告)日:2013-04-10

    申请号:CN201110241103.3

    申请日:2011-08-22

    Applicant: 北京大学

    Abstract: 本发明提供一种金属薄膜微米尺度热电偶器件,该热电偶器件包括绝缘基片,在绝缘基片上附着有一金属薄膜热电偶或多个金属薄膜热电偶构成的热电偶阵列,其中金属薄膜热电偶为单种金属的两条对折薄膜,其中,窄条带的宽度小于20微米,另一条宽条带的宽度大于100微米。与现有技术相比,本发明是一种制备简易,能够实现对微米尺度的局域温度进行测量的热电偶器件。并通过组合成阵列形式使用,可以实现对与热电偶阵列所接触的平面上的温度分布进行表征。

    一种纳米传感器的原位测量装置

    公开(公告)号:CN101650326A

    公开(公告)日:2010-02-17

    申请号:CN200810118259.0

    申请日:2008-08-12

    Applicant: 北京大学

    Abstract: 本发明公开了一种纳米传感器的原位测量装置,该装置包括一盛装纳米传感器的盒子,该盒子由一盒底和一透明材料的盒盖组成,纳米传感器固定在电学测量基片上,所述电学测量基片放置在盒底内,用盒盖密封住盒底,在所述盒盖或盒底上设有两个微孔,一个微孔与真空抽吸针阀的传导管密封连接,另一个微孔与气/液源的注入阀门的传导管密封连接。利用该装置能够实现精确地向纳米传感器表面注射微量气体或液体,在进行原位测量时,还可以为纳米传感器提供从大气到高真空的气氛环境。与现有技术相比,本发明具有结构简单、成本低、易推广的优点。

    一种温度传感器以及温度测量方法

    公开(公告)号:CN107300425B

    公开(公告)日:2019-12-20

    申请号:CN201710545104.4

    申请日:2017-07-06

    Applicant: 北京大学

    Abstract: 本发明提供了一种温度传感器以及相应的温度测量方法,可以用于测量2000K‑3000K以上的高温,所述温度传感器包括测温结区、粗臂和细臂,其中所述粗臂的一端与所述测温结区的一端连接,所述细臂的一端与所述测温结区的另一端连接,组成所述粗臂的材料与组成所述细臂的材料实质相同,组成所述粗臂的材料与组成所述测温结区的材料实质相同,所述粗臂的横截面积大于所述细臂的横截面积;所述测量方法为将所述温度传感器的测温结区与待测物体接触,由所述粗臂和细臂间的电势差计算待测物体的温度。本发明的该温度传感器克服了传统热电偶中由合金组成的测温结区熔点低,存在带来误差的接触电阻等问题,提高了测量温度的准确性以及测温范围。

    微纳米流体系统及其制备方法

    公开(公告)号:CN102009941B

    公开(公告)日:2013-12-11

    申请号:CN201010500889.1

    申请日:2010-10-09

    Applicant: 北京大学

    Abstract: 本发明公开了一种制备微纳米流体系统的方法。该方法,包括如下步骤:1)在基底上制备薄膜热电偶阵列,得到薄膜热电偶阵列层;2)在所述步骤1)制备得到的薄膜热电偶阵列层上制备一层绝缘层a,并在所述绝缘层之上制备一层场调制层;3)在所述步骤2)制备得到的场调制层上制备一层绝缘层b,并将所述绝缘层b上制备一层微纳米通道层,封装后得到所述微纳米流体系统。本发明制作的微纳米流体测试系统带有局域温度测量与控制、可进行直流及高频电磁测量。该系统功能多样、结构紧凑且测试精度高,在物理、化学、生物等研究领域都有很好的应用前景。

    微纳米流体系统及其制备方法

    公开(公告)号:CN102009941A

    公开(公告)日:2011-04-13

    申请号:CN201010500889.1

    申请日:2010-10-09

    Applicant: 北京大学

    Abstract: 本发明公开了一种制备微纳米流体系统的方法。该方法,包括如下步骤:1)在基底上制备薄膜热电偶阵列,得到薄膜热电偶阵列层;2)在所述步骤1)制备得到的薄膜热电偶阵列层上制备一层绝缘层a,并在所述绝缘层之上制备一层场调制层;3)在所述步骤2)制备得到的场调制层上制备一层绝缘层b,并将所述绝缘层b上制备一层微纳米通道层,封装后得到所述微纳米流体系统。本发明制作的微纳米流体测试系统带有局域温度测量与控制、可进行直流及高频电磁测量。该系统功能多样、结构紧凑且测试精度高,在物理、化学、生物等研究领域都有很好的应用前景。

    基于碳纳米管和平面波导结构的原子力显微镜探针

    公开(公告)号:CN101876667A

    公开(公告)日:2010-11-03

    申请号:CN201010214229.7

    申请日:2010-06-30

    Applicant: 北京大学

    Inventor: 许胜勇 孙伟强

    Abstract: 本发明提供了一种基于碳纳米管和平面波导结构的原子力显微镜探针,属于微纳米技术领域。该原子力显微镜探针包括与原子力显微镜兼容的探针基底平台,附着于探针基底平台表面上的平面波导,以及作为探针针尖的碳纳米管。使用时将平面波导结构连接至高频(微波)测量仪器,并将整个探针安装至AFM,通过AFM的标准操作进行探针扫描或者定位,可以精确地测量样品的表面形貌,并同时原位测量样品的高频特性。特别是利用平面波导,可以进行信号损失很小的高频(微波)传输,而且作为针尖的碳纳米管具有优良的高频传输性能和力学特性,并可以通过生长条件的控制来调节其直径大小等特性,适于高精度的高频(微波)测量。

    一种温度传感器以及温度测量方法

    公开(公告)号:CN107300425A

    公开(公告)日:2017-10-27

    申请号:CN201710545104.4

    申请日:2017-07-06

    Applicant: 北京大学

    Abstract: 本发明提供了一种温度传感器以及相应的温度测量方法,可以用于测量2000K-3000K以上的高温,所述温度传感器包括测温结区、粗臂和细臂,其中所述粗臂的一端与所述测温结区的一端连接,所述细臂的一端与所述测温结区的另一端连接,组成所述粗臂的材料与组成所述细臂的材料实质相同,组成所述粗臂的材料与组成所述测温结区的材料实质相同,所述粗臂的横截面积大于所述细臂的横截面积;所述测量方法为将所述温度传感器的测温结区与待测物体接触,由所述粗臂和细臂间的电势差计算待测物体的温度。本发明的该温度传感器克服了传统热电偶中由合金组成的测温结区熔点低,存在带来误差的接触电阻等问题,提高了测量温度的准确性以及测温范围。

    一种纳米传感器的原位测量装置

    公开(公告)号:CN101650326B

    公开(公告)日:2013-05-29

    申请号:CN200810118259.0

    申请日:2008-08-12

    Applicant: 北京大学

    Abstract: 本发明公开了一种纳米传感器的原位测量装置,该装置包括一盛装纳米传感器的盒子,该盒子由一盒底和一透明材料的盒盖组成,纳米传感器固定在电学测量基片上,所述电学测量基片放置在盒底内,用盒盖密封住盒底,在所述盒盖或盒底上设有两个微孔,一个微孔与真空抽吸针阀的传导管密封连接,另一个微孔与气/液源的注入阀门的传导管密封连接。利用该装置能够实现精确地向纳米传感器表面注射微量气体或液体,在进行原位测量时,还可以为纳米传感器提供从大气到高真空的气氛环境。与现有技术相比,本发明具有结构简单、成本低、易推广的优点。

    一种金属薄膜微米尺度热电偶器件

    公开(公告)号:CN102419217A

    公开(公告)日:2012-04-18

    申请号:CN201110241103.3

    申请日:2011-08-22

    Applicant: 北京大学

    Abstract: 本发明提供一种金属薄膜微米尺度热电偶器件,该热电偶器件包括绝缘基片,在绝缘基片上附着有一金属薄膜热电偶或多个金属薄膜热电偶构成的热电偶阵列,其中金属薄膜热电偶为单种金属的两条对折薄膜,其中,窄条带的宽度小于20微米,另一条宽条带的宽度大于100微米。与现有技术相比,本发明是一种制备简易,能够实现对微米尺度的局域温度进行测量的热电偶器件。并通过组合成阵列形式使用,可以实现对与热电偶阵列所接触的平面上的温度分布进行表征。

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