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公开(公告)号:CN118858817A
公开(公告)日:2024-10-29
申请号:CN202411069026.1
申请日:2024-08-06
Applicant: 北京全路通信信号研究设计院集团有限公司
Abstract: 本发明公开了一种信号测试装置、衰耗冗余控制器和轨道电路系统。该信号测试装置应用于衰耗冗余控制器,该信号测试装置包括:塞孔插座、连接器、线束和设置在衰耗冗余控制器上的面板;其中,连接器的第一端与衰耗冗余控制器的控制板卡连接,连接器的第二端通过线束与塞孔插座的第一端连接;面板上设置有多个安装区域,每个安装区域设置有一塞孔插座;塞孔插座的第二端设置在面板上,且每个塞孔插座的第二端端面与对应的安装区域齐平设置;其中,塞孔插座的第二端端面上设置有多个内缩式测试孔;内缩式测试孔用于为待测设备提供信号测试通道。通过将测试通道内缩式设计,阻止外界静电场进入设备内部,提高设备的抗静电性能,增强电气安全性。