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公开(公告)号：CN114235251A
公开(公告)日：2022-03-25
申请号：CN202111464791.X
申请日：2021-12-03
Applicant: 北京东方计量测试研究所
Abstract: 本发明涉及一种真空下等离子推进器推力测量装置，包括支承框架(1)、摆动盘(2)、固定盘(3)、悬丝(4)、托板(5)、推力器(6)、配重(7)以及光学测量组件(8)，所述摆动盘(2)设置在所述托板(5)上，所述固定盘(3)固定在所述支承框架(1)上，所述悬丝(4)两端分别连接所述摆动盘(2)和所述固定盘(3)，且沿圆周方向间隔排列，所述摆动盘(2)和所述固定盘(3)上分别设有环形的悬丝安装部(9)，所述悬丝安装部(9)同心且间隔地设置两个以上。本发明可解决抗干扰、高精度、宽量程的微推力测量问题，且本装置结构简单、可靠。
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公开(公告)号：CN115754818A
公开(公告)日：2023-03-07
申请号：CN202211505811.8
申请日：2022-11-28
Applicant: 北京东方计量测试研究所
IPC: G01R31/58 , G01R31/55 , G01R31/54 , G01R31/52 , G01R31/12 , G01R31/00 , G01R15/12 , G01R1/02 , G05B19/042
Abstract: 本发明涉及一种手持式电缆测试系统，包括：低功耗主控板，用于接收矩阵切换通道板输出的模拟信号，通过MCU控制实现待测电缆的测试；矩阵切换通道板，用于接收所述低功耗主控板输出的数字控制信号，实现待测电缆的通道切换；总线板，用于实现所述低功耗主控板和所述矩阵切换通道板的信号传输；锂电池，用于为所述电缆测试系统供电；以及液晶屏，与所述低功耗主控板连接，用于显示测试结果并自动生成测试报告。本发明可以提高硬件设备多个测试功能的集成度，缩小设备体积，并内置电池供电，避免系统测试能力受测试环境约束。
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公开(公告)号：CN119085936A
公开(公告)日：2024-12-06
申请号：CN202411202701.3
申请日：2024-08-29
Applicant: 北京东方计量测试研究所
IPC: G01L27/00
Abstract: 本发明涉及一种超快自动响应的激波管动态压力校准装置及校准方法，装置包括：若干个标准传感器，沿激波管低压段管的长度依次设置在激波管低压段管的侧面上；待校准传感器，可拆卸地安装在激波管低压段管的末端；信号调理仪，与标准传感器和待校准传感器电连接；数据采集模块，用于通过信号调理仪获取标准传感器和待校准传感器的检测信号；数据分析模块，与数据采集模块连接，用于对标准传感器和待校准传感器的检测信号进行分析。本发明，能够实现对高频压力信号的超快响应、自动采集和数据分析，满足高频响应的动态压力传感器不同工况下的测试和校准需求。
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公开(公告)号：CN114245553A
公开(公告)日：2022-03-25
申请号：CN202111464320.9
申请日：2021-12-03
Applicant: 北京东方计量测试研究所
IPC: H05H1/00
Abstract: 本发明涉及一种等离子体参数校准方法，包括以下步骤：a、构建等离子体参数测量溯源的最高测量标准,将最高测量标准溯源至电学、光学标准装置；b、利用最高测量标准校准等离子体测量装置，实现等离子体测量装置的校准溯源；c、利用最高测量标准校准次高测量标准，利用校准后的次高测量标准对等离子体发生器进行现场校准。由此，可实现等离子体测量装置的校准溯源以及等离子体发生器的溯源，本发明的方法保证了等离子体参数的量值准确。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN114236450A
公开(公告)日：2022-03-25
申请号：CN202111464781.6
申请日：2021-12-03
Applicant: 北京东方计量测试研究所
IPC: G01R35/00
Abstract: 本发明涉及一种等离子体静电探针校准用模拟负载，包括可调精密恒压源、MOSFET模块、二极管阵列、相位补偿过压保护网络、屏蔽机箱和同轴接头，二极管阵列用于产生单向导通且随电压指数增长的探针电流，以模拟探针过渡区的电流信号，MOSFET模块用于在探针对地正电压下产生饱和电流信号以模拟探针的电子饱和电流；可调精密恒压源用于为MOSFET模块提供精准稳定的栅极电压，相位补偿过压保护网络用于限制MOSFET模块饱和电流、补偿探针高速扫描时二极管阵列引起的相位偏差、保护测试负载免受过高的探针电压烧毁。本发明可模拟空间等离子体的特征阻抗，与探针电源配合使用可获得大电流范围内的等离子体探针特征电压电流曲线，具有极高的精度、重复性和稳定性。
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公开(公告)号：CN114245555B
公开(公告)日：2025-03-07
申请号：CN202111474864.3
申请日：2021-12-03
Applicant: 北京东方计量测试研究所
IPC: H05H1/00
Abstract: 本发明涉及一种等离子体测量装置，包括：探针组件，用于收集等离子体的电子和离子电流；高压扫描电源模块，用于产生电压波形并施加于所述探针组件；信号调理模块，用于切换所述探针组件的工作模式，并对所述探针组件反馈的电压和电流信号进行调理；数据采集模块，用于采集不同工作模式下经过调理的所述电压和电流信号，并对所述电压和电流信号进行处理后获得等离子体参数；所述工作模式包括扫描单探针、直流偏置单探针、扫描双探针和直流偏置三探针。由此，本发明通过切换四种探针工作模式，可以实现大范围等离子体密度和温度测量，满足稳态和瞬态等离子体参数的测量，同时极大地提高了等离子体参数的测量精度和效率。
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公开(公告)号：CN114235251B
公开(公告)日：2024-05-28
申请号：CN202111464791.X
申请日：2021-12-03
Applicant: 北京东方计量测试研究所
Abstract: 本发明涉及一种真空下等离子推进器推力测量装置，包括支承框架(1)、摆动盘(2)、固定盘(3)、悬丝(4)、托板(5)、推力器(6)、配重(7)以及光学测量组件(8)，所述摆动盘(2)设置在所述托板(5)上，所述固定盘(3)固定在所述支承框架(1)上，所述悬丝(4)两端分别连接所述摆动盘(2)和所述固定盘(3)，且沿圆周方向间隔排列，所述摆动盘(2)和所述固定盘(3)上分别设有环形的悬丝安装部(9)，所述悬丝安装部(9)同心且间隔地设置两个以上。本发明可解决抗干扰、高精度、宽量程的微推力测量问题，且本装置结构简单、可靠。
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公开(公告)号：CN114245555A
公开(公告)日：2022-03-25
申请号：CN202111474864.3
申请日：2021-12-03
Applicant: 北京东方计量测试研究所
IPC: H05H1/00
Abstract: 本发明涉及一种等离子体测量装置，包括：探针组件，用于收集等离子体的电子和离子电流；高压扫描电源模块，用于产生电压波形并施加于所述探针组件；信号调理模块，用于切换所述探针组件的工作模式，并对所述探针组件反馈的电压和电流信号进行调理；数据采集模块，用于采集不同工作模式下经过调理的所述电压和电流信号，并对所述电压和电流信号进行处理后获得等离子体参数；所述工作模式包括扫描单探针、直流偏置单探针、扫描双探针和直流偏置三探针。由此，本发明通过切换四种探针工作模式，可以实现大范围等离子体密度和温度测量，满足稳态和瞬态等离子体参数的测量，同时极大地提高了等离子体参数的测量精度和效率。
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公开(公告)号：CN111654966A
公开(公告)日：2020-09-11
申请号：CN202010504516.5
申请日：2020-06-05
Applicant: 北京东方计量测试研究所
IPC: H05H1/00
Abstract: 本公开实施例公开了一种等离子体测量装置，该等离子体测量装置包括：移动台，用于在第一方向或第二方向上移动，第一方向与第二方向不同；支撑架，位于移动台上，能够跟随移动台的移动而移动；至少两个探针，位于支撑架上，用于通过支撑架的移动，与等离子体的至少两个点接触并同时测量至少两个点的等离子体特征参数。通过本公开实施例，能够提高测量效率及精度。
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