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公开(公告)号：CN117871436B
公开(公告)日：2024-07-16
申请号：CN202311633705.2
申请日：2023-12-01
Applicant: 江苏南大光电材料股份有限公司 , 全椒南大光电材料有限公司
Abstract: 本发明适用于高纯特气痕量水分仪验证领域，提供了一种用于高纯特气痕量水分仪验证的渗透管分析装置及方法，其中一种用于高纯特气痕量水分仪验证的渗透管分析装置，包括验证管路、水分测试装置以及尾气控制处理装置，所述验证管路、水分测试装置以及尾气控制处理装置依次连接，所述验证管路包括一号管道、纯化管、渗透管以及二号管道，所述一号管道、纯化管以及渗透管均设置有气体流量控制器，所述验证管路连通有样品接入管。本发明公开了一种用于高纯特气痕量水分仪验证的渗透管分析装置的测试方法可用于高纯磷烷、砷烷等电子特气光腔衰荡水分仪仪器评估。
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公开(公告)号：CN117890492B
公开(公告)日：2024-07-05
申请号：CN202311679446.7
申请日：2023-12-08
Applicant: 江苏南大光电材料股份有限公司 , 全椒南大光电材料有限公司
Abstract: 本发明适用于高纯磷烷杂质分析技术领域，提供了一种色谱傅里叶红外联用分析系统及方法，其中一种色谱傅里叶红外联用分析系统，包括：色谱柱、阀切换装置、红外光谱检测装置以及控压装置；所述控压装置与红外光谱检测装置连通，所述控压装置用于控制红外光谱检测装置测试过程中的气压。本发明提供的一种色谱傅里叶红外联用分析系统，在限流机构中，通过孔盘与孔板的配合从而对通过的气体进行流量控制，避免截止阀失效，气压突然增加造成红外光谱检测装置检测误差。
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公开(公告)号：CN113984687A
公开(公告)日：2022-01-28
申请号：CN202111208306.2
申请日：2021-10-18
Applicant: 江苏南大光电材料股份有限公司 , 全椒南大光电材料有限公司 , 苏州南大光电材料有限公司
Abstract: 本发明属于气体分析检测领域，尤其是一种高纯磷烷中杂质的光谱分析检测装置及其分析方法，针对现有的光谱分析检测装置在连续使用时，容易因装置内还残留有杂质，导致分析检测的机构不够准确，且光谱分析检测装置上的进气管在不使用时如不进行收纳则容易受到损毁的问题，现提出如下方案，其包括主壳体，所述主壳体的正面设置有显示屏，主壳体内设置有光谱分析仪主体，主壳体内开设有第一空腔和第二空腔，本发明中的进气管可以便捷的进行伸缩收纳，有效的达到对进气管进行防护的目的，且在进气管伸出的过程中可以将装置内的残留气体杂质等排出提升分析检测的准确性，且可以有效的避免高纯磷烷的浪费。
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公开(公告)号：CN109030651B
公开(公告)日：2022-01-28
申请号：CN201810902464.X
申请日：2018-08-09
Applicant: 全椒南大光电材料有限公司
IPC: G01N30/02
Abstract: 本发明提供基于中心切割的双柱分离检测系统及检测方法，包括第一放空柱、第二放空柱、第一分离柱和第二分离柱；十通阀的2个端口分别为样品进口和样品出口、2个端口为载气入口、1个端口与第一放空柱连接、1个端口与第二放空柱连接、第一四通阀的1个端口与第一放空柱连接、1个端口与第一分离柱连接、第二四通阀的1个端口与第二放空柱连接、1个端口与第二分离柱连接、1个端口为第四载气入口；六通阀的1个端口与检测器连接、1个端口与第二分离柱连接、1个端口与第一分离柱连接。通过阀切割和前级色谱柱达到主组分的放空，残余主峰携带杂质通过后级色谱柱进一步分离检测，明显改善传统单级色谱柱检测限问题，最大程度优化脉冲氦离子化检测器性能。
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公开(公告)号：CN109030651A
公开(公告)日：2018-12-18
申请号：CN201810902464.X
申请日：2018-08-09
Applicant: 全椒南大光电材料有限公司
IPC: G01N30/02
CPC classification number: G01N30/02
Abstract: 本发明提供基于中心切割的双柱分离检测系统及检测方法，包括第一放空柱、第二放空柱、第一分离柱和第二分离柱；十通阀的2个端口分别为样品进口和样品出口、2个端口为载气入口、1个端口与第一放空柱连接、1个端口与第二放空柱连接、第一四通阀的1个端口与第一放空柱连接、1个端口与第一分离柱连接、第二四通阀的1个端口与第二放空柱连接、1个端口与第二分离柱连接、1个端口为第四载气入口；六通阀的1个端口与检测器连接、1个端口与第二分离柱连接、1个端口与第一分离柱连接。通过阀切割和前级色谱柱达到主组分的放空，残余主峰携带杂质通过后级色谱柱进一步分离检测，明显改善传统单级色谱柱检测限问题，最大程度优化脉冲氦离子化检测器性能。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN118179240B
公开(公告)日：2024-07-23
申请号：CN202410605141.X
申请日：2024-05-16
Applicant: 全椒南大光电材料有限公司
Abstract: 本发明公开了一种含磷化氢废气处理系统，属于废气处理技术领域，包括吸收塔，所述吸收塔外部由上至下依次设置有排气管、进液管和进气管，所述吸收塔内腔的底部设置有与进气管连通的布气机构，所述进液管的一端伸入吸收塔连接有布液箱，所述布液箱的底壁上阵列设置有雾化喷头，所述布气机构上方转动安装有两块导流板，两块导流板呈倒“八”字形分布，所述布液箱下方设置有两块用于遮挡雾化喷头的挡板，位于同一侧的导流板和挡板之间设置有联动机构，联动机构能够在进气气压改变后调整导流板的角度以及挡板的位置；本发明可根据废气的进气量自动调整进气面积以及吸收剂的喷淋量，在保证处理效果的同时，还避免了吸收剂的浪费。
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公开(公告)号：CN118142389B
公开(公告)日：2024-07-16
申请号：CN202410571159.2
申请日：2024-05-10
Applicant: 全椒南大光电材料有限公司
Abstract: 本发明属于吸附剂生产技术领域，提供了一种砷化氢吸附剂的生产设备与工艺，包括底座，底座上固定安装有壳体，所述底座固定安装有伺服升降模组，伺服升降模组带动位于壳体内的支架升降，以解决现有技术中因分子筛孔道堵塞导致活性组分无法充分负载，导致吸附效果不佳的技术问题，本发明通过滤板和滤筒的快速上下往复移动带动滤筒内部的分子筛上下往复移动，同时滤板和滤筒会在移动方向改变后对分子筛进行撞击，进而在撞击的作用下打破分子筛内杂质与孔道之间的结合，之后杂质能够从分子筛的孔道中离开，实现了分子筛孔洞中杂质的清理，本发明可以广泛的应用于物体内部杂质清理的作业场景。
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公开(公告)号：CN118142389A
公开(公告)日：2024-06-07
申请号：CN202410571159.2
申请日：2024-05-10
Applicant: 全椒南大光电材料有限公司
Abstract: 本发明属于吸附剂生产技术领域，提供了一种砷化氢吸附剂的生产设备与工艺，包括底座，底座上固定安装有壳体，所述底座固定安装有伺服升降模组，伺服升降模组带动位于壳体内的支架升降，以解决现有技术中因分子筛孔道堵塞导致活性组分无法充分负载，导致吸附效果不佳的技术问题，本发明通过滤板和滤筒的快速上下往复移动带动滤筒内部的分子筛上下往复移动，同时滤板和滤筒会在移动方向改变后对分子筛进行撞击，进而在撞击的作用下打破分子筛内杂质与孔道之间的结合，之后杂质能够从分子筛的孔道中离开，实现了分子筛孔洞中杂质的清理，本发明可以广泛的应用于物体内部杂质清理的作业场景。
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公开(公告)号：CN115159562B
公开(公告)日：2024-05-10
申请号：CN202210638324.2
申请日：2022-06-07
Applicant: 全椒南大光电材料有限公司 , 江苏南大光电材料股份有限公司
IPC: C01G17/02
Abstract: 本发明公开了一种高纯锗探测器用氧化锗粉制备装置及方法，涉及氧化锗技术领域，其中该方法实现以76GeF4为锗源制备76GeO2的路线，主要步骤包括；碱液辅助四氟化锗水解，离心分离和清洗，烘干和煅烧，最终的得到高纯氧化锗粉，制备工艺安全可控，反应过程中二次引入杂质少，经烘干煅烧后收率可达98％以上，最大程度上降低成本提高收率，并在最高350℃左右温度煅烧，降低后续还原工艺难度，并可推广到其它丰度四氟化锗富集产品的水解再利用。
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公开(公告)号：CN117871436A
公开(公告)日：2024-04-12
申请号：CN202311633705.2
申请日：2023-12-01
Applicant: 江苏南大光电材料股份有限公司 , 全椒南大光电材料有限公司
Abstract: 本发明适用于高纯特气痕量水分仪验证领域，提供了一种用于高纯特气痕量水分仪验证的渗透管分析装置及方法，其中一种用于高纯特气痕量水分仪验证的渗透管分析装置，包括验证管路、水分测试装置以及尾气控制处理装置，所述验证管路、水分测试装置以及尾气控制处理装置依次连接，所述验证管路包括一号管道、纯化管、渗透管以及二号管道，所述一号管道、纯化管以及渗透管均设置有气体流量控制器，所述验证管路连通有样品接入管。本发明公开了一种用于高纯特气痕量水分仪验证的渗透管分析装置的测试方法可用于高纯磷烷、砷烷等电子特气光腔衰荡水分仪仪器评估。
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