公开(公告)号：CN117169697B

公开(公告)日：2024-01-23

申请号：CN202311394173.1

申请日：2023-10-26

Applicant: 传麒科技(北京)股份有限公司

Inventor： 魏春光 ,  魏铭志 ,  王克振 ,  戴冬明 ,  刘凡

IPC: G01R31/28 ,  G01R31/00 ,  G06F18/2415 ,  G06F18/214

Abstract: 本发明公开了一种用于ATE测试平台的测试判断系统，涉及ATE测试平台测试技术领域，预先收集ATE测试平台对于芯片进行测试的测试功能表，预先收集过去每次使用ATE测试平台对芯片进行测试时，生成的一组测试训练数据，训练出判断抽样的芯片是否合格的贝叶斯网络模型，收集在每一个新生产批次的芯片生产后，对芯片进行抽样，并收集ATE测试平台对每个抽样的芯片生成的测试特征向量，基于最新生产批次对应的所有测试特征向量，更新抽样率和更新每项测试功能的功能测试率，并更新下一生产批次的测试策略；降低了人工判断测试结果的人力成本以及ATE测试平台的测试成本。

公开(公告)号：CN117169697A

公开(公告)日：2023-12-05

申请号：CN202311394173.1

申请日：2023-10-26

Applicant: 传麒科技(北京)股份有限公司

Inventor： 魏春光 ,  魏铭志 ,  王克振 ,  戴冬明 ,  刘凡

IPC: G01R31/28 ,  G01R31/00 ,  G06F18/2415 ,  G06F18/214

Abstract: 本发明公开了一种用于ATE测试平台的测试判断系统，涉及ATE测试平台测试技术领域，预先收集ATE测试平台对于芯片进行测试的测试功能表，预先收集过去每次使用ATE测试平台对芯片进行测试时，生成的一组测试训练数据，训练出判断抽样的芯片是否合格的贝叶斯网络模型，收集在每一个新生产批次的芯片生产后，对芯片进行抽样，并收集ATE测试平台对每个抽样的芯片生成的测试特征向量，基于最新生产批次对应的所有测试特征向量，更新抽样率和更新每项测试功能的功能测试率，并更新下一生产批次的测试策略；降低了人工判断测试结果的人力成本以及ATE测试平台的测试成本。