套后物理量反演方法、装置、计算设备及存储介质

    公开(公告)号:CN116500694A

    公开(公告)日:2023-07-28

    申请号:CN202310769498.7

    申请日:2023-06-28

    Abstract: 本发明公开了一种套后物理量反演方法、装置、计算设备及存储介质,涉及测井技术领域,该方法包括:获取在各个指定孔隙度下任一环境参数扰动时各个探测器的计数比值;计算各个计数比值对应的各个视孔隙度;绘制各个探测器对应于该环境参数的各个校正图版;其中,校正图版用于表征各个指定孔隙度下该环境参数与视孔隙度之间的关系;根据各个探测器对应于各个已知环境参数的校正图版对初始孔隙度进行校正,得到中间校正孔隙度;根据中间校正孔隙度对未知环境参数进行反演处理,得到未知环境参数的反演结果以及孔隙度校正结果。通过上述方式,能够实现对未知环境参数的反演,同时能够获得更高准确度的孔隙度。

    套后物理量反演方法、装置、计算设备及存储介质

    公开(公告)号:CN116500694B

    公开(公告)日:2023-09-01

    申请号:CN202310769498.7

    申请日:2023-06-28

    Abstract: 本发明公开了一种套后物理量反演方法、装置、计算设备及存储介质,涉及测井技术领域,该方法包括:获取在各个指定孔隙度下任一环境参数扰动时各个探测器的计数比值;计算各个计数比值对应的各个视孔隙度;绘制各个探测器对应于该环境参数的各个校正图版;其中,校正图版用于表征各个指定孔隙度下该环境参数与视孔隙度之间的关系;根据各个探测器对应于各个已知环境参数的校正图版对初始孔隙度进行校正,得到中间校正孔隙度;根据中间校正孔隙度对未知环境参数进行反演处理,得到未知环境参数的反演结果以及孔隙度校正结果。通过上述方式,能够实现对未知环境参数的反演,同时能够获得更高准确度的孔隙度。

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