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公开(公告)号：CN118518198A
公开(公告)日：2024-08-20
申请号：CN202410584294.0
申请日：2024-05-11
Applicant: 中国计量科学研究院
IPC: G01J1/02
Abstract: 本发明涉及辐射计量技术领域，提供一种太阳辐射计的高精度功率测量溯源装置及其溯源方法，其中，太阳辐射计的高精度功率测量溯源装置包括光源、光束调制系统、位移台、探测器和太阳辐射计，光源用于向预设方向发出功率可控的光束；光束调制系统设于预设方向上，光束调制系统用于对光束进行调制处理，以得到目标光束；位移台沿预设方向设于光束调制系统的后方，位移台具有与预设方向对应的第一位置；探测器安装于位移台上，探测器可活动的切换至第一位置；太阳辐射计安装于位移台上，太阳辐射计可活动的切换至第一位置。本申请实现在精确的小功率水平下获得等同于太阳辐射的大功率水平下的功率溯源。
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公开(公告)号：CN115077867A
公开(公告)日：2022-09-20
申请号：CN202210583523.8
申请日：2022-05-25
Applicant: 中国计量科学研究院
Abstract: 本申请涉及显微成像辐射校准技术领域，提供一种光子通量标准源与光子通量响应度测量方法。光子通量标准源包括积分球光源与光阑；所述积分球光源出口外侧包括具有第一面积的第一平整表面，所述光阑靠近所述积分球光源一侧为具有第二面积的第二平整表面，所述第一平整表面与所述第二平整表面之间平行且存在平面间隔，所述积分球光源出口在所述光阑限定的立体角内具有平均亮度；其中，所述平面间隔、所述平均亮度、所述第一面积与所述第二面积，用于计算确定待测探测器的光子通量响应度的光子通量。本申请可以准确地确定出进入显微成像系统的光子通量，因此可以提高根据光子通量标定的显微成像系统的光子通量响应度精确度。
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公开(公告)号：CN112964358A
公开(公告)日：2021-06-15
申请号：CN202110437535.5
申请日：2021-04-22
Applicant: 中国计量科学研究院
Abstract: 本发明涉及一种基于振镜的高稳定性均匀积分球亮度源系统，包括依次设置的激光器、光阑、偏振器、功率稳定器、振镜和积分球，振镜与信号发生器连接；激光器，用于发射激光；光阑，用于调整光束大小；偏振器，用于调整光束的偏振方向，使光束的偏振方向与功率稳定器相匹配；功率稳定器，用于稳定光束；信号发生器，用于向振镜发送变化的控制信号，使振镜形成变化光场；积分球上设有光束入口、光束出口，光束入口与光束出口在同一直线上，积分球的光束出口处设有辐射亮度计，辐射亮度计放置在电动平移台上，积分球的光束出口处设有监视探测器，监视探测器与电压表连接。本发明将振镜与积分球相结合能够有效的抑制散斑，具有良好的稳定性和均匀性。
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公开(公告)号：CN109540844B
公开(公告)日：2021-03-16
申请号：CN201811312029.8
申请日：2018-11-06
Applicant: 中国计量科学研究院
IPC: G01N21/49
Abstract: 本发明涉及光辐射测量领域，公开了一种液体散射测量装置及其测量方法，其中的测量装置包括：容器、第一积分球和第二积分球；所述容器设置在所述第一积分球及所述第二积分球之间，用于装待测液体；所述第一积分球的球心及所述第二积分球的球心所在的直线与水平方向平行；在所述容器与所述第一积分球相连的一侧设有第一光学窗口，以及在所述第一积分球上与所述第一光学窗口的相对处设有进光口；在所述容器与所述第二积分球相连的一侧设有第二光学窗口，以及在所述第二积分球上与所述第二光学窗口的相对处设有出光口。本发明提供的测量装置可以同时测量得出液体的透射(前向)散射特性和反射(后向)散射特性。
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公开(公告)号：CN108037078B
公开(公告)日：2020-12-25
申请号：CN201711250397.X
申请日：2017-12-01
Applicant: 中国计量科学研究院
Abstract: 本发明提供的一种基于矩阵变换的测量材料光学性能的方法及系统，其中所述方法包括：S1，获取光强周期性变化的光源在不同电流和不同波长下的光谱分布矩阵；S2，用所述光强周期性变化的光源照射探测器，以获取所述探测器的响应矩阵；S3，用所述光强周期性变化的光源照射测量对象，获取所述探测器的输出信号，并结合所述响应矩阵和所述光谱分布矩阵，获取所述测量对象在不同波长下的光学性能。本发明提供的基于矩阵变换的测量材料光学性能的方法，简化了测量步骤，且该光谱仪的电路简单，使得整个测量系统的成本较低，提高了该方法和系统的实用性。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN109540284A
公开(公告)日：2019-03-29
申请号：CN201811312385.X
申请日：2018-11-06
Applicant: 中国计量科学研究院
Abstract: 本发明涉及辐射测量领域，公开了一种光功率探测器及其测量方法与制备方法，其中该探测器包括光纤、第一吸光层、导热层和温度传感器；所述第一吸光层包覆于所述光纤的终端的表面，且所述第一吸光层的材料为吸光材料；所述导热层包覆于所述第一吸光层的表面，且所述导热层的材料为导热材料；所述温度传感器设置在所述导热层的表面，用于检测所述导热层的温度。本发明提供的探测器能够较准确的测量光功率，且不会因光的发散特性而影响测量结果，故该探测器能够保证检测结果的高精确度。
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公开(公告)号：CN115200724A
公开(公告)日：2022-10-18
申请号：CN202210770298.9
申请日：2022-06-30
Applicant: 中国计量科学研究院
IPC: G01J11/00
Abstract: 本发明提供一种单光子探测器量子效率校准装置和方法，涉及单光子探测技术领域。单光子探测器量子效率校准装置包括：脉冲激励源，用于产生激励脉冲；单光子源，在激励脉冲的激励下能够发出具有特定波长的单光子辐射；光子收集器，包括显微物镜，用于接收单光子辐射并成像；标准单光子探测器，用于和待测单光子探测器交替置于光子收集器的成像点位置，以使单光子辐射能够分别照射到标准单光子探测器和待测单光子探测器的光敏面，且标准单光子探测器的单光子探测量子效率经过标定。本发明的单光子探测器量子效率校准装置和方法，通过将单光子源作为标准定标光源，利用单光子源的单光子特性，实现准确校准单光子探测器的量子效率，校准准确度高。
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公开(公告)号：CN108037095B
公开(公告)日：2020-08-04
申请号：CN201711248870.0
申请日：2017-12-01
Applicant: 中国计量科学研究院
Abstract: 本发明提供一种黑体绝对发射率的测量装置，包括量子级联激光器、红外透镜、积分球和变口径光阑；所述积分球上设置有第一窗孔和第二窗孔；所述量子级联激光器、所述红外透镜、所述第一窗孔、所述第二窗孔和所述变口径光阑依次排列，位于同一轴线上，并且所述轴线经过所述积分球的球心；黑体可拆卸地安装在所述变口径光阑上。本发明提供的黑体绝对发射率的测量装置，采用量子级联激光器作为光源，通过红外透镜调节入射到黑体内部的光束，通过测量黑体吸收比的方式，根据能量守恒，得出黑体的绝对发射率。该装置结构简单，测量结果精准，可测量不同波长处的黑体的绝对发射率，实用性强。
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公开(公告)号：CN109540844A
公开(公告)日：2019-03-29
申请号：CN201811312029.8
申请日：2018-11-06
Applicant: 中国计量科学研究院
IPC: G01N21/49
Abstract: 本发明涉及光辐射测量领域，公开了一种液体散射测量装置及其测量方法，其中的测量装置包括：容器、第一积分球和第二积分球；所述容器设置在所述第一积分球及所述第二积分球之间，用于装待测液体；所述第一积分球的球心及所述第二积分球的球心所在的直线与水平方向平行；在所述容器与所述第一积分球相连的一侧设有第一光学窗口，以及在所述第一积分球上与所述第一光学窗口的相对处设有进光口；在所述容器与所述第二积分球相连的一侧设有第二光学窗口，以及在所述第二积分球上与所述第二光学窗口的相对处设有出光口。本发明提供的测量装置可以同时测量得出液体的透射(前向)散射特性和反射(后向)散射特性。
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公开(公告)号：CN108362726A
公开(公告)日：2018-08-03
申请号：CN201810151308.4
申请日：2018-02-14
Applicant: 中国计量科学研究院
IPC: G01N25/12
Abstract: 本发明提供的一种超导相变温度传感器及其制备方法，其中所述传感器包括：依次镀在基板上的第一层薄膜和第二层薄膜；第一层薄膜为超导材料；第二层薄膜的宽度与第一层薄膜的宽度的比值沿所述第一层薄膜的长度方向逐渐变化；所述第一层薄膜的厚度与所述第二层薄膜的厚度之和为0.2-200nm。在所述第二层薄膜的宽度与所述第一层薄膜的宽度的比值的最大处的超导相变温度为第一温度，在所述第二层薄膜的宽度与所述第一层薄膜的宽度的比值的最小处的超导相变温度为第二温度，超导相变温度传感器的最佳工作范围为所述第一温度至所述第二温度。本发明提供的超导相变温度传感器具有较宽的工作范围，使得超导相变温度传感器的适用范围更广泛。
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