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公开(公告)号：CN1818883A
公开(公告)日：2006-08-16
申请号：CN200510007633.6
申请日：2005-02-07
Applicant: 中国科学院计算技术研究所
IPC: G06F11/22
Abstract: 本发明提供一种用于测试MIPS处理器的设备。本发明采用测试主板与处理器分离的方式，该设备包括处理器子卡和测试主板两部分，该测试主板和处理器子卡之间通过SLOT1插槽连接。处理器子卡封装有待测的MIPS处理器、处理器倍频跳线电路和上电逻辑时序电路。处理器子卡根据不同封装、不同管脚排布的MIPS处理器进行封装，封装的处理器子卡的输出信号的排布应与测试主板的SLOT1插槽的信号输入排布方式相一致；从而每一次MIPS处理器设计升级后，只需要重新封装相应的处理器子卡就可以测试，而不需要更新整个设备。本发明的设备可以针对不同封装类型的MIPS处理器进行测试。
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