一种XRD图谱自动寻峰方法
    1.
    发明公开

    公开(公告)号:CN116952999A

    公开(公告)日:2023-10-27

    申请号:CN202310633155.8

    申请日:2023-05-31

    Abstract: 本发明公开了一种X射线衍射图谱(XRD图谱)自动寻峰方法,涉及基于XRD图谱的物相识别领域。该方法主要包括以下步骤:S1:构建宽、窄窗对称零面积变换函数,对谱数据进行变换并形成变换结果组;S2:比较法和平顶峰处理;S3:本底扣除、强度筛查和宽度余量计算;S4:对变换处理结果进行数据融合,利用“与”融合准则排查筛选出不在峰位特征范围内的道址;S5:聚类分析,进一步划分峰位与非峰位,得出最终峰位判定结果。利用本发明提出的自动寻峰方法进行XRD图谱寻峰,无需人为设置参数,能够准确地识别出谱线峰位,解决了传统寻峰方法需要根据输入谱数据特征频繁调整参数,使用受限的问题,为物相识别带来便利。

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