一种辐照缺陷对腐蚀行为影响的模拟方法、系统及介质

    公开(公告)号:CN115273992A

    公开(公告)日:2022-11-01

    申请号:CN202210933893.X

    申请日:2022-08-04

    Abstract: 本发明实施例提供一种辐照缺陷对腐蚀行为影响的模拟方法,包括:模拟含和不含典型辐照缺陷的氧原子在不同间隙占位的含Nb锆合金结构;进行高通量筛选,筛选出能量最低的含典型辐照缺陷的氧原子在不同间隙占位的含Nb锆合金结构;对筛选出的所有能量最低的含典型辐照缺陷的氧原子在不同间隙占位的含Nb锆合金结构进行单点能计算;通过缺陷形成能公式计算每个能量最低的含典型辐照缺陷的氧原子在不同间隙占位的含Nb锆合金结构中的典型缺陷与氧原子的结合能;根据结合能结合由单点能得到的电子特性参数,模拟预测辐照缺陷对含Nb锆合金腐蚀行为的影响。本发明实施例解决了现有技术难以模拟辐照缺陷对含Nb锆合金的腐蚀行为的影响的技术问题。

    一种放射性试样的电子探针屏蔽样品座

    公开(公告)号:CN114518376B

    公开(公告)日:2024-08-23

    申请号:CN202210150745.0

    申请日:2022-02-18

    Abstract: 本发明公开了一种放射性试样的电子探针屏蔽样品座,包括样品台底盘、可调节样品夹具和固定样品夹具;所述固定样品夹具和可调节样品夹具设置在样品台底盘上,所述固定样品夹具和可调节样品夹具相对设置,所述固定样品夹具和可调节样品夹具之间形成用于容纳标准样品和待测样品的容纳腔,所述固定样品夹具和可调节样品夹具之间的间距可调节;所述样品台底盘、可调节样品夹具和固定样品夹具均采用屏蔽材料制成。本发明的样品座在不影响电子探针正常测试的情况下能对放射性样品从源头上进行屏蔽,进而降低设备元器件所承受的辐射剂量水平、提高元器件的使用寿命、优化设备信息采集效率、保护试验人员和试验环境等的电子探针屏蔽样品座。

    一种辐照缺陷对腐蚀行为影响的模拟方法、系统及介质

    公开(公告)号:CN115273992B

    公开(公告)日:2024-01-23

    申请号:CN202210933893.X

    申请日:2022-08-04

    Abstract: 本发明实施例提供一种辐照缺陷对腐蚀行为影响的模拟方法,包括:模拟含和不含典型辐照缺陷的氧原子在不同间隙占位的含Nb锆合金结构;进行高通量筛选,筛选出能量最低的含典型辐照缺陷的氧原子在不同间隙占位的含Nb锆合金结构;对筛选出的所有能量最低的含典型辐照缺陷的氧原子在不同间隙占位的含Nb锆合金结构进行单点能计算;通过缺陷形成能公式计算每个能量最低的含典型辐照缺陷的氧原子在不同间隙占位的含Nb锆合金结构中的典型缺陷与氧原子的结合能;根据结合能结合由单点能得到的电子特性参数,模拟预测辐照缺陷对含Nb锆合金腐蚀行为的影响。本发明实施例解决了现有技术难以模拟辐照缺陷对含Nb锆合金的腐蚀行为的影响的技术问题。

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